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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107121124A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710355295.8
申请日：2017-05-19
Applicant: 上海宇航系统工程研究所
IPC: G01C1/04
CPC classification number: G01C1/04
Abstract: 本发明是关于星载天线机械指向精度的测量方法，该方法利用相机拍摄天线阵面从而快速获得反光标志点坐标，通过公共标志点转换至经纬仪测量系统坐标系下并拟合天线阵面法线，利用经纬仪准直测量卫星基准棱镜，互瞄获得经纬仪之间的角度关系，最终计算得到天线阵面法线与卫星坐标系的机械指向精度，满足大尺寸天线机械指向精度快速测量的要求。本发明的星载天线机械指向精度的测量方法，能够广泛适用于天线机械指向精度的测量，特别是大尺寸天线机械指向精度快速测量。
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公开(公告)号：CN107121124B
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201710355295.8
申请日：2017-05-19
Applicant: 上海宇航系统工程研究所
IPC: G01C1/04
Abstract: 本发明是关于星载天线机械指向精度的测量方法，该方法利用相机拍摄天线阵面从而快速获得反光标志点坐标，通过公共标志点转换至经纬仪测量系统坐标系下并拟合天线阵面法线，利用经纬仪准直测量卫星基准棱镜，互瞄获得经纬仪之间的角度关系，最终计算得到天线阵面法线与卫星坐标系的机械指向精度，满足大尺寸天线机械指向精度快速测量的要求。本发明的星载天线机械指向精度的测量方法，能够广泛适用于天线机械指向精度的测量，特别是大尺寸天线机械指向精度快速测量。
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公开(公告)号：CN111879290A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010686199.3
申请日：2020-07-16
Applicant: 上海宇航系统工程研究所
Abstract: 本发明的一种大型天线机械指向精度测量方法包括：在星体两侧分别设置立柱，所述立柱上设有测量点；在天线阵面展开前，拍摄星体基准测量点和立柱测量点，建立星体坐标系与立柱坐标系之间的关系；展开天线阵面，拍摄天线阵面测量点和立柱测量点，建立天线阵面坐标系与立柱坐标系之间的关系；根据星体坐标系与立柱坐标系之间的关系以及天线阵面坐标系与立柱坐标系之间的关系，得到星体坐标系与天线阵面坐标系的关系，即天线机械指向精度。
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公开(公告)号：CN115267649B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202210715359.1
申请日：2022-06-23
Applicant: 上海宇航系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种星载固面天线机械指向精度测量方法，包括如下步骤：步骤S1，展开所述星载固面天线的天线阵面；步骤S2，于天线阵面前方的预设位置架设激光跟踪仪；步骤S3，采用所述激光跟踪仪测量星体棱镜，以拟合并获取星体坐标系；步骤S4，采用所述激光跟踪仪测量所述天线阵面上预设的特征测量点，以获取所述天线阵面的法线；步骤S5，解算所述天线阵面的法线与所述星体坐标系的Z轴之间的夹角，并将所述夹角作为天线机械指向精度的表征。这样，利用激光跟踪仪测量天线阵面法线与星体坐标系，避免多仪器联合测量带来的测量精度溯源及多台仪器建站测量效率低的问题，提高了测量精度及效率。
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公开(公告)号：CN115267649A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210715359.1
申请日：2022-06-23
Applicant: 上海宇航系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种星载固面天线机械指向精度测量方法，包括如下步骤：步骤S1，展开所述星载固面天线的天线阵面；步骤S2，于天线阵面前方的预设位置架设激光跟踪仪；步骤S3，采用所述激光跟踪仪测量星体棱镜，以拟合并获取星体坐标系；步骤S4，采用所述激光跟踪仪测量所述天线阵面上预设的特征测量点，以获取所述天线阵面的法线；步骤S5，解算所述天线阵面的法线与所述星体坐标系的Z轴之间的夹角，并将所述夹角作为天线机械指向精度的表征。这样，利用激光跟踪仪测量天线阵面法线与星体坐标系，避免多仪器联合测量带来的测量精度溯源及多台仪器建站测量效率低的问题，提高了测量精度及效率。
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