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公开(公告)号:CN104445139A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410614829.0
申请日:2014-11-04
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明是一种制备单壁碳纳米管的方法,该方法包括以下步骤,1.)使用粘附在衬底上或者是悬空的周围支持的双层石墨烯材料,将该双层石墨烯材料置入真空室抽真空至真空度2*10-3Pa以下;2.)开启电子枪,将电子束汇聚至双层石墨烯材料表面,使用汇聚的电子束刻蚀石墨烯,产生一条石墨烯窄带,石墨烯窄带的取向通过观察石墨烯的晶面取向,通过控制电子束刻蚀的方向来进行控制,双层石墨烯纳米带的宽度小于10纳米;3.)使用电子束辐照双层石墨烯纳米带边缘,促使双层石墨烯纳米带边缘的结构修复,上、下层边缘的碳原子成键,根据不同的电子束辐照强度,经过10-60分钟的辐照,生成单壁碳纳米管结构,此时停止辐照即可。
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公开(公告)号:CN103531424B
公开(公告)日:2015-12-02
申请号:CN201310477205.4
申请日:2013-10-14
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台,包括金属纳米探针、绝缘堵片和样品支撑台,所述绝缘堵片的正反表面分别设有多个金属电极,且对应的金属电极之间通过金属化通孔实现导电连接;所述样品支撑台一端与绝缘堵片连接,另一端设有取样区和测试区,所述测试区为设在样品支撑台表面并悬空的金属电极,样品支撑台的金属电极与绝缘堵片的金属电极为导电连接;所述金属纳米探针、测试区金属电极和被测样品构成三端场效应晶体管。本发明能够在原子尺度的分辨率下观察样品并实时进行电学测量,原位揭示待测单元的电学性能和纳米结构变化。
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公开(公告)号:CN103531424A
公开(公告)日:2014-01-22
申请号:CN201310477205.4
申请日:2013-10-14
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台,包括金属纳米探针、绝缘堵片和样品支撑台,所述绝缘堵片的正反表面分别设有多个金属电极,且对应的金属电极之间通过金属化通孔实现导电连接;所述样品支撑台一端与绝缘堵片连接,另一端设有取样区和测试区,所述测试区为设在样品支撑台表面并悬空的金属电极,样品支撑台的金属电极与绝缘堵片的金属电极为导电连接;所述金属纳米探针、测试区金属电极和被测样品构成三端场效应晶体管。本发明能够在原子尺度的分辨率下观察样品并实时进行电学测量,原位揭示待测单元的电学性能和纳米结构变化。
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公开(公告)号:CN104445139B
公开(公告)日:2016-04-13
申请号:CN201410614829.0
申请日:2014-11-04
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明是一种制备单壁碳纳米管的方法,该方法包括以下步骤,1.)使用粘附在衬底上或者是悬空的周围支持的双层石墨烯材料,将该双层石墨烯材料置入真空室抽真空至真空度2*10-3Pa以下;2.)开启电子枪,将电子束汇聚至双层石墨烯材料表面,使用汇聚的电子束刻蚀石墨烯,产生一条石墨烯窄带,石墨烯窄带的取向通过观察石墨烯的晶面取向,通过控制电子束刻蚀的方向来进行控制,双层石墨烯纳米带的宽度小于10纳米;3.)使用电子束辐照双层石墨烯纳米带边缘,促使双层石墨烯纳米带边缘的结构修复,上、下层边缘的碳原子成键,根据不同的电子束辐照强度,经过10-60分钟的辐照,生成单壁碳纳米管结构,此时停止辐照即可。
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公开(公告)号:CN103743608A
公开(公告)日:2014-04-23
申请号:CN201410026273.3
申请日:2014-01-21
Applicant: 东南大学
IPC: G01N1/28
Abstract: 本发明公开了一种用于原位透射电子显微镜的深亚微米器件样品制备方法,采用聚焦离子束系统,利用电磁透镜将离子束聚焦成非常小尺寸而进行显微切割或研磨等加工,能够精确定位制样,获取深亚微米器件。采用聚焦离子束对样品进行切割、减薄,相对于传统聚焦离子束最终减薄样品采用相对样品台倾斜的52度倾斜±(0.5度-1.5度),创造性的使用相对样品台倾斜的52度倾斜±7度。本发明还提供一种用于原位透射电子显微镜的深亚微米器件样品,所述样品包括多个、分立、形状规则、宽度小于20纳米、厚度小于100纳米的器件,适用于原位透射电子显微镜研究,对研究深亚微米器件性能具有重大意义。
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公开(公告)号:CN103411982A
公开(公告)日:2013-11-27
申请号:CN201310283755.2
申请日:2013-07-05
Applicant: 东南大学
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明公开了一种原位测量固-液相界面电化学反应的TEM样品台,包括堵片、设在该堵片上的多个独立金属电极和液体腔;其中两个独立金属电极上设有异质结发光源;所述液体腔内具有两个用通道连通的空腔,空腔内部可设置外加电场电极,液体腔上还设置透射电镜观察窗。本发明解决了目前透射电子显微镜(TEM)样品台无法进行固-液界面表征测量的技术难题,从而实现研究材料,特别是在外加电场、光场下纳米结构材料和性质之间关系的目的。
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公开(公告)号:CN103743608B
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201410026273.3
申请日:2014-01-21
Applicant: 东南大学
IPC: G01N1/28
Abstract: 本发明公开了一种用于原位透射电子显微镜的深亚微米器件样品制备方法,采用聚焦离子束系统,利用电磁透镜将离子束聚焦成非常小尺寸而进行显微切割或研磨等加工,能够精确定位制样,获取深亚微米器件。采用聚焦离子束对样品进行切割、减薄,相对于传统聚焦离子束最终减薄样品采用相对样品台倾斜的52度倾斜±(0.5度-1.5度),创造性的使用相对样品台倾斜的52度倾斜±7度。本发明还提供一种用于原位透射电子显微镜的深亚微米器件样品,所述样品包括多个、分立、形状规则、宽度小于20纳米、厚度小于100纳米的器件,适用于原位透射电子显微镜研究,对研究深亚微米器件性能具有重大意义。
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公开(公告)号:CN203365350U
公开(公告)日:2013-12-25
申请号:CN201320400404.0
申请日:2013-07-05
Applicant: 东南大学
IPC: G01N23/00
Abstract: 本实用新型公开了一种原位测量固-液相界面电化学反应的TEM样品台,包括堵片、设在该堵片上的多个独立金属电极和液体腔;其中两个独立金属电极上设有异质结发光源;所述液体腔内具有两个用通道连通的空腔,空腔内部可设置外加电场电极,液体腔上还设置透射电镜观察窗。本实用新型解决了目前透射电子显微镜(TEM)样品台无法进行固-液界面表征测量的技术难题,从而实现研究材料,特别是在外加电场、光场下纳米结构材料和性质之间关系的目的。
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公开(公告)号:CN203644726U
公开(公告)日:2014-06-11
申请号:CN201320631538.3
申请日:2013-10-14
Applicant: 东南大学
Abstract: 本实用新型公开了一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台,包括金属纳米探针、绝缘堵片和样品支撑台,所述绝缘堵片的正反表面分别设有多个金属电极,且对应的金属电极之间通过金属化通孔实现导电连接;所述样品支撑台一端与绝缘堵片连接,另一端设有取样区和测试区,所述测试区为设在样品支撑台表面并悬空的金属电极,样品支撑台的金属电极与绝缘堵片的金属电极为导电连接;所述金属纳米探针、测试区金属电极和被测样品构成三端场效应晶体管。本实用新型能够在原子尺度的分辨率下观察样品并实时进行电学测量,原位揭示待测单元的电学性能和纳米结构变化。?
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