公开(公告)号：CN118329792A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202410748582.5

申请日：2024-06-12

Applicant: 中北大学

Inventor： 温焕飞 ,  田野 ,  唐军 ,  刘俊 ,  李亮杰 ,  崔粉芳 ,  刘来

IPC: G01N21/21 ,  G01N21/63 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及一种视场可调的低维材料光学信号检测系统，主要解决现有低维材料的光学信号检测系统不能检测低维材料各向异性和自旋谷极化等物理性质的技术问题。本系统包括样品架、磁体结构、激发光路、成像光路和检测光路，通过第一旋转偏振器能够产生不同偏振角度的激光，通过第二旋转偏振器能够获取不同偏振分量的光学信号，同时样品架处于磁场环境中，利用磁光效应，通过对偏振状态的分析检测能够获取低维材料光学各向异性和自旋谷极化等物理性质；同时，本系统还设有成像光路，通过更换或调节高倍物镜和平凸透镜能够实现视场可调的高分辨率成像，更利于对待测位置的精准定位。

公开(公告)号：CN118311006A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410732547.4

申请日：2024-06-07

Applicant: 中北大学

Inventor： 田野 ,  温焕飞 ,  唐军 ,  刘俊 ,  李亮杰 ,  刘来 ,  田巍

IPC: G01N21/63 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及一种低温环境下磁电微波多场耦合可控的低维材料检测系统，主要解决现有低维材料检测系统不能对低维材料的物理特性进行多物理场调控的技术问题。本系统包括低温组件、样品架、磁场组件、微波组件、电压组件和光检测组件，通过低温组件能够为待测低维材料提供低温环境，通过磁场组件能够为待测低维材料提供可控磁场，通过微波组件能够为待测低维材料提供可控微波场，通过电压组件能够为待测低维材料提供可控电场，并且通过光检测组件能够对检测光进行分析从而得出待测低维材料的物理特性结果，如此能够实现低维材料在多物理场耦合外部因素下的调控，为研究低维材料的新奇物理效应提供了有力的工具。