Patent search ap:("中国地质大学(武汉)") AND inv:"田海涛" Page 1

1.

发明公开
一种二维多孔介质孔隙结构特征的定量评价装置及方法无效

公开(公告)号：CN110992331A

公开(公告)日：2020-04-10

申请号：CN201911196062.3

申请日：2019-11-27

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 蔡建超 , 夏宇轩 , 全世锜 , 韦伟 , 刘洋 , 田海涛

IPC: G06T7/00 , G06T7/136

Abstract: 本发明是关于一种二维多孔介质孔隙结构特征的定量评价装置及方法。主要采用的技术方案为：所述二维多孔介质孔隙结构特征的定量评价装置包括：图像处理模块、二值化图像处理模块及计算模块。其中，图像处理模块将待定量评价的多孔介质的CT彩色图像转换成CT灰度图像。二值化图像处理模块将CT灰度图像转换成CT二值化图像；其中，当CT二值化图像的孔隙度与多孔介质的孔隙度之间差值的绝对值小于0.01时，CT二值化图像为目标CT二值化图像；计算模块用于计算出所述目标CT二值化图像中目标区域的分形维数、缺项和进相。本发明主要用于利用多孔结构的CT彩色图像求解出二维多孔介质的分形维数、进相及缺项，以定量表征和评价多孔介质的孔隙结构。

Patent Agency Ranking