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公开(公告)号：CN113008769A
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201911321180.2
申请日：2019-12-20
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
Abstract: 本发明涉及材料测试领域，旨在解决现有的气氛腐蚀试验无法准确预测结构件服役过程中的腐蚀速率的问题，提供应力与气氛耦合加速腐蚀试验装置及试验方法。一种应力与气氛耦合加速腐蚀试验装置，其包括密封反应容器、应力加载系统和气氛控制系统；气氛控制系统连通密封反应容器，用于控制密封反应容器内的气氛；应力加载系统置于密封反应容器内，并包括底座板、顶板、连接杆和砝码；连接杆垂直连接于底座板上，顶板可滑动地套设于连接杆，并能够沿连接杆向靠近或远离底座板的方向移动；砝码支撑于顶板之上。本发明的有益效果是能在恒定载荷的压应力作用过程中，实现应力腐蚀与气氛加速腐蚀耦合效应，符合结构件实际服役时的腐蚀特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115900828A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211628949.7
申请日：2022-12-19
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
Abstract: 本发明公开一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统，涉及工件表面精细检测技术领域，包括以下内容：移动机械手，避免与回转体构件空间干涉，使检测探头与盛放座轴线重合；将回转体构件放置在盛放座上并与其轴线重合；上下移动机械手至检测探头的焦平面与回转体构件的轴线上的最高或最低点重合，微调回转体构件并确保其与盛放座、检测探头的轴线三轴合一，计算回转体构件的坐标零点；输入拟检测位点并规划移动路径，进行表面状态检测；确认检测信息满足检测要求并对数据进行处理。本发明通过利用机械手夹持检测探头，并且在检测时，通过调整检测探头的焦平面与检测位点切面重合，实现回转体构件表面精准定位与表面状态的精细检测。
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公开(公告)号：CN113008769B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN201911321180.2
申请日：2019-12-20
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
Abstract: 本发明涉及材料测试领域，旨在解决现有的气氛腐蚀试验无法准确预测结构件服役过程中的腐蚀速率的问题，提供应力与气氛耦合加速腐蚀试验装置及试验方法。一种应力与气氛耦合加速腐蚀试验装置，其包括密封反应容器、应力加载系统和气氛控制系统；气氛控制系统连通密封反应容器，用于控制密封反应容器内的气氛；应力加载系统置于密封反应容器内，并包括底座板、顶板、连接杆和砝码；连接杆垂直连接于底座板上，顶板可滑动地套设于连接杆，并能够沿连接杆向靠近或远离底座板的方向移动；砝码支撑于顶板之上。本发明的有益效果是能在恒定载荷的压应力作用过程中，实现应力腐蚀与气氛加速腐蚀耦合效应，符合结构件实际服役时的腐蚀特性。
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公开(公告)号：CN109234790A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811149468.1
申请日：2018-09-29
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
IPC: C25F3/28
Abstract: 本发明公开了一种金属铀的电化学抛光方法，该方法包括预处理、电化学抛光和后处理三个步骤；通过选用针对性配制的抛光液，并对电化学抛光处理过程中的参数与工艺做了针对性优化，使金属铀在电化学抛光过程中不再析出气体，从而不仅提高了电流利用率，缩短了抛光时间，同时，还避免了金属铀的过度侵蚀，降低了金属铀的损耗，本发明电化学抛光方法的抛光速度快、效果好，且工艺简单，在室温环境下即可进行，对金属铀的应用具有积极作用。
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公开(公告)号：CN115900828B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202211628949.7
申请日：2022-12-19
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
Abstract: 本发明公开一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统，涉及工件表面精细检测技术领域，包括以下内容：移动机械手，避免与回转体构件空间干涉，使检测探头与盛放座轴线重合；将回转体构件放置在盛放座上并与其轴线重合；上下移动机械手至检测探头的焦平面与回转体构件的轴线上的最高或最低点重合，微调回转体构件并确保其与盛放座、检测探头的轴线三轴合一，计算回转体构件的坐标零点；输入拟检测位点并规划移动路径，进行表面状态检测；确认检测信息满足检测要求并对数据进行处理。本发明通过利用机械手夹持检测探头，并且在检测时，通过调整检测探头的焦平面与检测位点切面重合，实现回转体构件表面精准定位与表面状态的精细检测。
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公开(公告)号：CN116817770A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310692054.8
申请日：2023-06-12
Applicant: 中国工程物理研究院材料研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于色度信息的金属材料氧化层厚度检测方法，包括：根据目标金属材料基体及其氧化层光学性质计算不同厚度氧化层对应的色度值，生成表征不同氧化层厚度对应色度信息的标准色卡；在相同测试环境下，采用相同设备获取待测金属材料表面区域的色度信息和标准色卡的色度信息；根据标准色卡的原始色度信息和获取的标准色卡的色度信息，建立校正模型，确定校正参数；使用建立的校正模型和校正参数对待测金属材料表面区域的色度信息进行校正；将待测金属材料表面区域校正后的色度值与标准色卡进行比对，获取待测金属材料的氧化层厚度值。减少了采集设备、采集环境的影响，提高测试准确性，并且操作简单快捷，灵活性高。
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