一种双延迟三阶相关仪
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108775966B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201811030194.4

    申请日:2018-09-05

    Abstract: 本发明公开了一种双延迟三阶相关仪。所述的装置中,被测的水平偏振的空间均匀的方形飞秒基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光,透射光再分成两束,以水平对称角度同时入射到倍频晶体,产生垂直偏振的单次自相关倍频信号,该倍频信号与分光镜的反射光束沿垂直面同时入射到和频晶体上,产生双延迟的三阶强度相关三倍频信号,通过简单的递归算法就可以恢复脉冲时间波形。本发明的双延迟三阶相关仪降低了脉冲恢复算法的复杂性,提高了时间准确度,成本低、结构简单,调节方便。

    一种超短激光脉冲波形测量装置

    公开(公告)号:CN106197693B

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201610548538.5

    申请日:2016-07-13

    Abstract: 本发明公开了一种超短激光脉冲波形测量装置。所述的装置中,被测的垂直偏振的平行激光束经过分光镜后将光变成透射光和反射光,反射基频光经扩束后被双棱镜分成上下两平行基频光,以对称角度入射到倍频晶体,产生的水平偏振的二倍频光,将时间强度信息转换为强度自相关一维空间信息,所述的二倍频光束与分光镜后的透射光在变频晶体上实现变频,产生三阶相关信号光,将时间强度信息转换为强度三阶相关二维空间信息,最后通过简单的重构技术获得脉冲波形信息。本发明的超短激光脉冲波形测量装置成本低、结构紧凑简单,调节方便,可以测量皮秒、飞秒脉冲波形。

    一种纳秒级脉冲激光波形测量方法

    公开(公告)号:CN109596229A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811532284.3

    申请日:2018-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种纳秒级脉冲激光波形测量方法。该测量方法中,被测平行光束通过会聚透镜后,进入分光镜组,分成多束光,每路光束依次通过衰减器、取样镜、能量计和半导体光电探测器,半导体光电探测器输出电信号通过电缆进入示波器;各路光按顺序与示波器通道一一对应,示波器测试数据通过网线送入计算机。示波器排序最后通道波形为完整脉冲波形,对应光路半导体光电探测器工作于线性动态区间内,其余通道对应光路半导体光电探测器工作于饱和区内;示波器各通道脉冲波形依次拼接获得具有高对比度的脉冲波形。该测量方法在确保测量设备处于安全运行状态下可以获得大的线性测量范围,特别适用于高功率激光装置纳秒级脉冲激光波形的测量。

    一种纳秒级脉冲激光波形测量装置

    公开(公告)号:CN109596228A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811532255.7

    申请日:2018-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种纳秒级脉冲激光波形测量装置。该测量装置中,被测平行光束通过会聚透镜后,进入分光镜组,分成多束光,每路光束依次通过衰减器、取样镜、能量计和半导体光电探测器,半导体光电探测器输出电信号通过电缆进入示波器;各路光按顺序与示波器通道一一对应,示波器测试数据通过网线送入计算机。示波器的最后一个通道波形为完整脉冲波形,对应光路的半导体光电探测器工作于线性动态区间内,其余通道对应光路半导体光电探测器工作于饱和区内;示波器各通道脉冲波形依次拼接获得具有高对比度的脉冲波形。该测量装置在确保测量设备处于安全运行状态下可以获得大的线性测量范围,特别适用于高功率激光装置纳秒级脉冲激光波形的测量。

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