公开(公告)号：CN115128425A

公开(公告)日：2022-09-30

申请号：CN202210857282.1

申请日：2022-07-20

Applicant: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)

Inventor： 许秀群 ,  裴开祥 ,  钱军军 ,  周发

IPC: G01R31/26

Abstract: 一种IGBT动态参数测试系统检测方法及其检测装置，属于半导体元器件测试系统检测技术领域。针对IGBT动态参数测试系统主要可施加技术性能指标VGE、VC、IC，采用相应的外部测试组件，通过适配器连接到测试系统的IGBT夹具装置上，对测试系统进行同步检测，读取相应标准器上的检测数据，进行测试数据的比对。针对时间参数检测，断开测试系统内置示波器，用标准正弦波信号发生器与内置示波器连接，分别设置内置示波器的时间参数量程及正弦波信号发生器的输出信号周期，用测试系统分别测试正弦波信号发生器及内置示波器，进行比对检测。解决现有IGBT模块动态参数测试系统不能校准、量值不能溯源的问题。广泛应用于IGBT动态参数测试系统的设备检测。

公开(公告)号：CN116550640A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202310634090.9

申请日：2023-05-31

Applicant: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)

Inventor： 廖从勇 ,  张荣荣 ,  周发

IPC: B07C5/34 ,  G01R31/00 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明提供的一种电子元器件自动高低温测试设备，包括高低温箱；本发明通过堆叠的存储盘可以同时进行较多器件的高低温测试，上下料机构可有效实现产品高低温测试工序的自动化，并有效的降低工作人员的劳动强度、提高生产效率、降低生产成本。出料口出料时立即对产品进行电参数测试，避免了现有因人工取出到电参数测试工序的过程中产品温度变化而导致的电参数测试偏差，有效提高温循试验后产品测试的时效性、准确性，保证产品一致性、稳定性。

公开(公告)号：CN220092187U

公开(公告)日：2023-11-28

申请号：CN202321363013.6

申请日：2023-05-31

Applicant: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)

Inventor： 廖从勇 ,  张荣荣 ,  周发

IPC: B07C5/34 ,  G01R31/00 ,  B07C5/36

Abstract: 本实用新型提供的一种电子元器件自动高低温测试设备，包括高低温箱；本实用新型通过堆叠的存储盘可以同时进行较多器件的高低温测试，上下料机构可有效实现产品高低温测试工序的自动化，并有效的降低工作人员的劳动强度、提高生产效率、降低生产成本。出料口出料时立即对产品进行电参数测试，避免了现有因人工取出到电参数测试工序的过程中产品温度变化而导致的电参数测试偏差，有效提高温循试验后产品测试的时效性、准确性，保证产品一致性、稳定性。