公开(公告)号：CN113589132B

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN202110999771.6

申请日：2021-08-30

Applicant: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)

Inventor： 潘昆 ,  杨光敏 ,  罗洪庆 ,  吴大彦 ,  潘林铃

IPC: G01R31/26

Abstract: 一种适用于晶体管及场效应管的高温老化反偏试验装置，包括正直流电源、负直流电源、测试电路模块、跳线模块、测试夹具、待测件、监视模块。正直流电源与测试电路模块的正端连接；负直流电源与测试电路模块的负端连接；跳线模块设置在测试电路模块与测试夹具之间，通过跳线设置，进行对应的晶体管或场效应管极间反偏电压连接；测试夹具包括测试板及待测件插座，通过待测件插座与待测件进行连接；监视模块与测试夹具连接，用于全过程监视待测件的老化状态。解决了现有三极管高温老化反偏试验技术造成大量资源的闲置浪费、需要大量的人力物力、生产效率低下、生产成本较高的问题。广泛应用于各种封装形式的晶体管及场效应管的高温老化反偏试验领域。

公开(公告)号：CN113589132A

公开(公告)日：2021-11-02

申请号：CN202110999771.6

申请日：2021-08-30

Applicant: 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)

Inventor： 潘昆 ,  杨光敏 ,  罗洪庆 ,  吴大彦 ,  潘林铃

IPC: G01R31/26

Abstract: 一种适用于晶体管及场效应管的高温老化反偏试验装置，包括正直流电源、负直流电源、测试电路模块、跳线模块、测试夹具、待测件、监视模块。正直流电源与测试电路模块的正端连接；负直流电源与测试电路模块的负端连接；跳线模块设置在测试电路模块与测试夹具之间，通过跳线设置，进行对应的晶体管或场效应管极间反偏电压连接；测试夹具包括测试板及待测件插座，通过待测件插座与待测件进行连接；监视模块与测试夹具连接，用于全过程监视待测件的老化状态。解决了现有三极管高温老化反偏试验技术造成大量资源的闲置浪费、需要大量的人力物力、生产效率低下、生产成本较高的问题。广泛应用于各种封装形式的晶体管及场效应管的高温老化反偏试验领域。