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公开(公告)号:CN118191434A
公开(公告)日:2024-06-14
申请号:CN202311800231.6
申请日:2023-12-25
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
IPC: G01R29/00
Abstract: 本发明公开了一种全数字孔径发射数字同时多波束方向图测试方法,属于数字化孔径平面近场测试领域,包括步骤:S1,产生激励信号;S2,形成发射数字波束;S3,产生参考波束;S4,产生测试通道;S5,设置扫描坐标系;S6,提取数字幅相;S7,近远场转换。本发明克服了现有数字化孔径平面近场测试方法的不足,该方法架构简洁,依托近场扫描架环境,无需额外的仪器设备,便能实现发射数字波束的方向图测试,并且具备同时多频点的数字波束测试能力,相比现有的近、远场测试手段具备明显的优势。
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公开(公告)号:CN117978300A
公开(公告)日:2024-05-03
申请号:CN202311791043.1
申请日:2023-12-22
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
IPC: H04B17/12
Abstract: 本发明公开了一种大规模全数字化孔径发射外校正方法和系统,通过对全数字化天线阵列进行上电初始化并完成程序加载,对应天线阵列上各阵元的位置,在扫描架控制计算机上完成校正坐标系建立,由全数字化天线阵列完成参考信号生成;启动扫描,控制扫描机探头依次移动到各扫描坐标点,控制扫描坐标点处的阵元发射,其他通道关闭,扫描机探头连接到全数字化天线阵列上的公共接收通道,同时采集公共接收通道的测量数据与参考信号,提取各频点的幅相计算幅度差和相位差并存储记录,遍历完所有扫描坐标点即完成校正过程。本发明结构简单,具备同时多频点校正能力,自动化程度高,测试效率和校正精度具备明显优势。
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