公开(公告)号：CN111739973A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN202010625054.2

申请日：2020-07-01

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 黄志明 ,  胡涛 ,  张志博 ,  吴敬 ,  马万里 ,  崔壮壮

IPC: H01L31/101 ,  H01L31/0216 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/18

Abstract: 本发明公开了一种非制冷双色红外薄膜型探测器及制备方法，所述探测器采用中波和长波的双探测元模式，由布拉格反射镜膜系，锰钴镍氧敏感元薄膜，氧化铝衬底组成。通过精确控制布拉格反射镜膜系结构，探测器可以有效同步采集目标在3-5微米和8-14微米两个大气窗口下的红外光谱强度，并能对两波段的光谱进行对比，利用光谱特性的差异，比较容易的区分目标、背景、红外诱饵，达到提取真实目标的效果、提升红外探测识别能力，降低虚警率的目的。本发明突破了非制冷、可宽温区工作(-40—+60℃)、可片上集成的双色红外探测等关键技术，未来可应用于目标探测识别、热成像、导航辅助和夜视等领域。

公开(公告)号：CN110044846A

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201910246106.2

申请日：2019-03-29

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 王少伟 ,  颜炎洪 ,  崔壮壮 ,  陈旭 ,  吴智勇 ,  陆卫

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明公开了一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法，通过镀膜方法来制备获得法布里-珀罗腔(F-P)的光学微腔结构，只需将二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料嵌埋到光学微腔中，应用显微光谱仪对比测量有、无低维材料区域的透射谱或反射谱，通过腔模峰位的移动获得低维材料对光程差的改变信息，就可以精确计算出低维材料的折射率。本发明解决了微米尺度低维材料折射率的测量难题并实现精确测量，具有很好的普适性，能够应用于各种二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料折射率的精确测定。

公开(公告)号：CN111739973B

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202010625054.2

申请日：2020-07-01

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 黄志明 ,  胡涛 ,  张志博 ,  吴敬 ,  马万里 ,  崔壮壮

IPC: H01L31/101 ,  H01L31/0216 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/18

Abstract: 本发明公开了一种非制冷双色红外薄膜型探测器及制备方法，所述探测器采用中波和长波的双探测元模式，由布拉格反射镜膜系，锰钴镍氧敏感元薄膜，氧化铝衬底组成。通过精确控制布拉格反射镜膜系结构，探测器可以有效同步采集目标在3‑5微米和8‑14微米两个大气窗口下的红外光谱强度，并能对两波段的光谱进行对比，利用光谱特性的差异，比较容易的区分目标、背景、红外诱饵，达到提取真实目标的效果、提升红外探测识别能力，降低虚警率的目的。本发明突破了非制冷、可宽温区工作(‑40—+60℃)、可片上集成的双色红外探测等关键技术，未来可应用于目标探测识别、热成像、导航辅助和夜视等领域。