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公开(公告)号:CN112834037A
公开(公告)日:2021-05-25
申请号:CN202011644615.X
申请日:2020-12-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明属于光谱成像技术领域,涉及一种实现大光程差、高稳定性的相干色散光谱成像方法及装置。克服基于传统迈克尔逊型干涉仪相干色散光谱成像存在的对环境要求严苛及透过率和灵敏度较低的问题。利用分束器将目标光束分成强度比为50:50的两路光束;利用光程调节元件用于改变两路光束的光程,形成干涉条纹;利用汇聚透镜将干涉光汇聚成像到狭缝处;利用色散器件将干涉条纹按照波长色散;利用光电探测器接收色散器件色散后的干涉条纹信息。成像装置相比于传统相干色散光谱成像仪,具有能量利用率高、灵敏度高、结构紧凑及稳定性高的优点。