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公开(公告)号:CN103654833A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310582495.9
申请日:2013-11-19
Applicant: 中国科学院过程工程研究所
CPC classification number: A61B6/032
Abstract: 本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括:使用待测CT对被测物体进行全周扫描,获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2;以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点,以探测器阵列所在直线为X轴,建立坐标系,计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2;计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD;根据RD、q1和q2,确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体,仅通过直接扫描被测物体,并对采集的原始数据进行简单的运算,即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
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公开(公告)号:CN103654833B
公开(公告)日:2015-10-28
申请号:CN201310582495.9
申请日:2013-11-19
Applicant: 中国科学院过程工程研究所
CPC classification number: A61B6/032
Abstract: 本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括:使用待测CT对被测物体进行全周扫描,获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2;以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点,以探测器阵列所在直线为X轴,建立坐标系,计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2;计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD;根据RD、q1和q2,确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体,仅通过直接扫描被测物体,并对采集的原始数据进行简单的运算,即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
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公开(公告)号:CN103606144A
公开(公告)日:2014-02-26
申请号:CN201310488193.5
申请日:2013-10-17
Applicant: 中国科学院过程工程研究所
CPC classification number: G01N23/04 , A61B6/032 , A61B6/5205 , G06T11/005
Abstract: 本发明公开了一种CT投影旋转中心的确定方法和装置。所述方法包括:按照预定的递增步长θ,使用待测CT对被测物体进行旋转扫描,获取不同旋转角度下,各探测器像素点的投影值p(nθ,m);获取探测器像素点m在不同旋转角度下的各投影值,将各投影值分为第一序列pm(kθ)和第二序列pm(kθ+180°),分别计算各探测器像素点中的第一序列pm(kθ)和第二序列pm(kθ+180°)之间的互相关系数,组成互相关系数序列R(m);遍历互相关系数序列R(m),查找与R(m)序列中的最大值相对应的探测器像素点,作为中心像素点;根据中心像素点的位置,确定待测CT的投影旋转中心。本发明无需使用专用的校正模体,仅通过直接扫描被测物体,并对采集的原始数据进行简单的运算,即可快速而精确的确定待测CT的投影旋转中心。
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