信号处理电路及信号处理方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119316003A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411389499.X

    申请日:2024-09-30

    Abstract: 本申请公开了一种信号处理电路及信号处理方法。其中,所述电路包括:输入模块、插值滤波器、处理模块,所述插值滤波器包括两个并行的第一滤波器和第二滤波器;其中,所述输入模块,用于输入待处理序列;所述第一滤波器,存储所述插值滤波器的奇数系数,用于基于所述插值滤波器的奇数系数,对所述待处理序列进行插值滤波处理,得到处理后的奇数序列;所述第二滤波器,存储所述插值滤波器的偶数系数,用于基于所述插值滤波器的偶数系数,对所述待处理序列进行插值滤波处理,得到处理后的偶数序列;所述处理模块,用于基于所述处理后的奇数序列和所述处理后的偶数序列,得到第一数字预失真信号。

    一种输入阻抗可调节的衰减器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117411458A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202211209096.3

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明提供一种输入阻抗可调节的衰减器,包括:N个并联的电路页,每个电路页均包括第一支路、第二支路、第三支路以及第四支路,第一支路包括串联的第一电阻和第一开关,第二支路包括串联的第二电阻和第二开关,第三支路的第一端和第二端分别设置在第一电阻与第一开关之间,以及第二电阻与第二开关之间,第四支路的第一端和第二端分别连接第一开关和第二开关的控制端;与N个并联的电路页一一对应的数控电路,数控电路用于提供第一控制信号和第二控制信号,第一控制信号用于控制第三支路的通断状态,第二控制信号用于控制第四支路的通断状态。

    同相正交IQ校准方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN117376076A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202310820244.3

    申请日:2023-07-05

    Abstract: 本申请提供一种同相正交IQ校准方法、装置及电子设备,该方法包括:获取收发机的当前温度以及工作带宽;基于当前温度以及工作带宽获取K组镜像信号功率,K组镜像信号功率包括:工作带宽下K个温度分别对应的镜像信号功率组,K个温度与当前温度匹配,一个镜像信号功率组中包括一个温度下N个频率点对应的镜像信号功率;根据K组镜像信号功率确定均衡器的抽头系数;基于均衡器对同相I分量信号和/或正交Q分量信号进行校准。即在确定均衡器抽头系数中,考虑了收发机的当前温度以及工作带宽,以提高抽头系数的准确性,根据抽头系数确定的均衡器进行IQ校准,提高校准效果。

    ADC芯片、电容偏差调整方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN117375611A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202310629954.8

    申请日:2023-05-31

    Abstract: 本申请公开了一种ADC芯片、电容偏差调整方法、装置及系统,涉及电子技术领域,以解决现有ADC芯片因电容失配而影响ADC性能的问题。其中方法包括:获取测试仪器对第一ADC芯片的第m位电容的目标测量容值,第一ADC芯片的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接测试仪器的第一探针和第二探针;根据目标测量容值与设计容值,确定目标权重;目标权重用作第二ADC芯片的第二逻辑控制单元中对应第m位电容的权重。这样,通过根据对第m位电容的测量容值与设计容值的偏差,调整下一版ADC芯片的逻辑控制单元对应第m位电容的权重,能够改善ADC芯片性能。

    测试装置及测试系统
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114614918A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202011408155.0

    申请日:2020-12-04

    Abstract: 本发明提供一种测试装置及测试系统。其中,测试装置包括:第一端口,用于连接喇叭天线;第二端口,用于连接产生有用信号的第一信号源;第三端口,用于连接产生干扰信号的第二信号源;第四端口,用于连接频谱仪;信号处理单元,包括第一单向连接通道和第二单向连接通道,所述第一单向连接通道的输入端为第一接口,输出端为第二接口,所述第二单向连接通道的输入端为所述信号处理单元的第二接口,输出端为第三接口;合路器,所述合路器的第一端与所述第一接口连接,第二端与所述第二端口连接,第三端与所述第三端口连接。本发明可以通过测试装置使得AAU设备的上行测试和下行测试在同一环境下实现,从而可以提高AAU设备的测试效率。

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