公开(公告)号：CN108107035A

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201711283400.8

申请日：2017-12-07

Applicant: 中铝材料应用研究院有限公司 ,  中铝瑞闽股份有限公司

Inventor： 高崇 ,  赵丕植 ,  黄瑞银 ,  江钟宇 ,  苏玉龙 ,  李英东

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提出了一种辉光放电光谱仪测定铝材表面氧化膜质量的方法，通过设定辉光放电光谱仪的工作条件，对铝材表面氧化膜进行由表及里的辉光放电光谱检测，获得由表层氧化膜到铝基材的元素分布图，由于氧化膜结构的差异导致其成分分布和表面不同，所以可以根据氧化膜中元素分布的特点，判断氧化膜质量是否合格。氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布发生激增或者骤降，则氧化膜质量不合格；氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布变化稳定，则氧化膜质量合格。

公开(公告)号：CN107966108A

公开(公告)日：2018-04-27

申请号：CN201711245150.9

申请日：2017-12-01

Applicant: 中铝瑞闽股份有限公司 ,  中铝材料应用研究院有限公司

Inventor： 高崇 ,  黄瑞银 ,  江钟宇 ,  苏玉龙 ,  刘贞山 ,  赵丕植

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/06

Abstract: 本发明提出了一种辉光放电光谱法测定铝材表面氧化膜厚度的方法，其在设定辉光光谱仪的工作条件后，对带有氧化膜的铝合金试样进行由表及里的辉光放电光谱检测，获得由表层氧化膜到铝基材中元素分布的强度-时间曲线，然后利用氧化膜与铝基材元素的较大差异，根据氧化膜内主要元素（如：Al、O、S等）含量变化判断氧化膜厚度。本发明方法准确性高，操作安全，可以测定各种厚度以及各种表面状态的阳极氧化膜，应用广泛。

公开(公告)号：CN108107035B

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201711283400.8

申请日：2017-12-07

Applicant: 中铝材料应用研究院有限公司 ,  中铝瑞闽股份有限公司

Inventor： 高崇 ,  赵丕植 ,  黄瑞银 ,  江钟宇 ,  苏玉龙 ,  李英东

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提出了一种辉光放电光谱仪测定铝材表面氧化膜质量的方法，通过设定辉光放电光谱仪的工作条件，对铝材表面氧化膜进行由表及里的辉光放电光谱检测，获得由表层氧化膜到铝基材的元素分布图，由于氧化膜结构的差异导致其成分分布和表面不同，所以可以根据氧化膜中元素分布的特点，判断氧化膜质量是否合格。氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布发生激增或者骤降，则氧化膜质量不合格；氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布变化稳定，则氧化膜质量合格。