公开(公告)号：CN117828441A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202410010770.8

申请日：2024-01-03

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司

Inventor： 孔岳 ,  尹书娟

IPC: G06F18/241 ,  G06F18/214 ,  G06F18/21

Abstract: 本公开提供一种缺陷数据检测的方法、装置、可读存储介质及电子设备，属于智能制造技术领域，其可解决现有技术中由于缺陷数据发生概率比较低，导致缺陷数据样本的数量相对较少，进一步导致缺陷数据收集困难的问题。本公开的缺陷数据检测的方法包括获取检测设备上报至缺陷管理系统中的待处理数据，待处理数据包括良品数据和缺陷数据；将待处理数据输入到效用性网络模型中进行分类，输出分类结果，以根据分类结果得到缺陷数据，进行缺陷数据挖掘；其中，效用性网络模型是根据良品数据样本生成的。本公开可以只关注良品数据，而不关注缺陷数据，便可在海量的数据中捞出带有瑕疵的产品。

公开(公告)号：CN117314864A

公开(公告)日：2023-12-29

申请号：CN202311280386.1

申请日：2023-09-28

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  北京京东方技术开发有限公司

Inventor： 尹书娟

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/90 ,  G06T7/62 ,  G06T5/30 ,  G06V10/774 ,  G06V10/25 ,  G06T5/50 ,  G06V10/82

Abstract: 本申请公开了一种图像数据的处理方法、装置、设备及存储介质，所述处理方法包括：获取目标类别缺陷对应的产品缺陷图像，以及目标产品的产品背景图像；获取预先构建的语义模型，其中，所述语义模型具有确定各种类别缺陷在所述产品背景图像中的发生区域的能力；利用所述语义模型在所述产品背景图像中确定所述目标类别缺陷对应的目标区域；将所述产品缺陷图像融合至所述目标区域，得到所述目标产品的与所述目标类别缺陷对应的缺陷图像样本。通过本申请提供的技术方案，可以实现工业场景中缺陷图像样本的自动生成，便于工业检测项目的快速启动。