测试结构、测试电路、显示面板及显示装置

    公开(公告)号:CN113643635A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202110933927.0

    申请日:2021-08-13

    Abstract: 本发明公开一种测试结构、测试电路、显示面板及显示装置,测试结构包括:第一支路,包括依次串联的第一线路、第二线路和第三线路,以及第二支路,包括依次串联的第四线路、第五线路和第六线路;第二线路和第五线路分别包括至少两个串联的第一绑定电阻,位于第二线路两端的第一绑定电阻的其中之一和位于第五线路两端的第一绑定电阻的其中之一为同一个电阻,并设定为待测电阻,第一线路、第三线路、第四线路和第六线路分别包括一个或多个串联的第二绑定电阻;第一支路用于通过第一线路远离第二线路的端部和第三线路远离第二线路的端部来耦接恒流源;第二支路用于通过第四线路远离第五线路的端部和第六线路远离第五线路的端部来耦接电压表。

    一种显示面板和显示装置

    公开(公告)号:CN109830486A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201910145815.1

    申请日:2019-02-26

    Abstract: 本发明实施例提供一种显示面板和显示装置,涉及显示装置技术领域,能够解决现有显示面板在绑定IC时容易发生导电走线断裂的问题。所述显示面板包括基底,还包括:设置在基底的非显示区域的多个条状的支撑结构,以及设置在支撑结构上的多条导电走线;导电走线的延伸方向与支撑结构的延伸方向相交;支撑结构用于使设置在其上的导电走线在导电走线的延伸方向上呈凹凸状。本发明用于显示面板的IC绑定。

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