光源装置和测量方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1088835C

    公开(公告)日:2002-08-07

    申请号:CN96198037.0

    申请日:1996-10-30

    CPC classification number: G01J3/10 G01J2003/1828

    Abstract: 由一声-光晶体(41)、一声波驱动器(42)和一压电换能器(42)构成的一种声-光可调滤光器(4)设置在一光源部(2)前方,该光源部包括波长特性互不相同的多个光源(2A、2B、…2N)。声波驱动器(42)生成的RF的频率按照所选波长变动。因此,所需波长的光作为正负一级光束入射到一会聚透镜(5)上,所需波长之外的波长的光作为零级光束入射到会聚透镜(5)上。该会聚透镜(5)把正负一级光束和零级光束会聚到不同位置上。该会聚透镜(5)的前方有一选光器(6),该选光器在正负一级光束会聚其上的位置上有两孔。因此,只有所需波长的光可通过该选光器(6)而从该光源装置(1)发出。

    光源装置和测量方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1201520A

    公开(公告)日:1998-12-09

    申请号:CN96198037.0

    申请日:1996-10-30

    CPC classification number: G01J3/10 G01J2003/1828

    Abstract: 由一声—光晶体(41)、一声波驱动器(42)和一压电换能器(42)构成的一种声—光可调滤光器(4)设置在一光源部(2)前方,该光源部包括波长特性互不相同的多个光源(2A、2B、…2N)。声波驱动器(42)生成的RF的频率按照所选波长变动。因此,所需波长的光作为正负一级光束入射到一会聚透镜(5)上,所需波长之外的波长的光作为零级光束入射到会聚透镜(5)上。该会聚透镜(5)把正负一级光束和零级光束会聚到不同位置上。该会聚透镜(5)的前方有一选光器(6),该选光器在正负一级光束会聚其上的位置上有两孔。因此,只有所需波长的光可通过该选光器(6)而从该光源装置(1)发出。

    光学测量设备/方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1154472A

    公开(公告)日:1997-07-16

    申请号:CN96120513.X

    申请日:1996-10-31

    CPC classification number: G01N21/21

    Abstract: 本发明的光学测量设备和方法用于通过利用穿过持测物质的测量光和利用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成分的物理量,包括获取第一、第二光干涉信号的第一、第二干涉装置;将第一、第二光干涉信号转换为第一、第二电信号的第一、第二光电转换部分;扩展第一、第二电信号的相位的第一、第二相位扩展部分;用于测量经第一、第二相位扩展部分扩展后的相位的相差的相差测量部分;及根据相差测量部分测得的相差来确定物理量的物理量确定部分。

    测量待测物质中特定成分物理量的光学测量设备/方法

    公开(公告)号:CN1102237C

    公开(公告)日:2003-02-26

    申请号:CN96120513.X

    申请日:1996-10-31

    CPC classification number: G01N21/21

    Abstract: 本发明的光学测量设备和方法用于通过利用穿过待测物质的测量光和利用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成份的物理量,包括获取第一、第二光干涉信号的第一、第二干涉装置;将第一、第二光干涉信号转换为第一、第二电信号的第一、第二光电转换部分;扩展第一、第二电信号的相位的第一、第二相位扩展部分;用于测量经第一、第二相位扩展部分扩展后的相位的相差的相差测量部分;及根据相差测量部分测得的相差来确定物理量的物理量确定部分。

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