-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101400987B
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200780009223.2
申请日：2007-03-08
Applicant: 仓敷纺绩株式会社
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/33
Abstract: 光学探针包括：在远紫外区具有光透射特性的第一光学材料的第一部分和与上述面接触而配置的第二光学材料的第二部分。例如，第二光学材料在远紫外区具有比第一部分高的折射率。第二部分在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面。或者，光学探针由在远紫外区具有光透射性的光学材料构成，在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面，在该面附近的折射率在远紫外区高于其它部分的折射率。由此，能够进行溶解在水中的极微量的溶质成分等在远紫外区的分光测定。
-
公开(公告)号：CN101261216A
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN200810085314.0
申请日：2008-03-07
Applicant: 仓敷纺绩株式会社
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/33
Abstract: 一种具有棱镜和支架的衰减全反射探头。所述棱镜由在远紫外区透射光的光学材料制成，具有与样品接触的接触面以及均不与样品接触的入射面和出射面。所述支架具有开口，在所述开口周围与棱镜气密地接合，并且最终使朝向开口的接触面露出。所述棱镜的接触面、入射面和出射面形成为使得透过入射面的光线以大于临界角的入射角进入接触面，且由接触面全反射的光通过出射面射出。
-
公开(公告)号：CN101400987A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200780009223.2
申请日：2007-03-08
Applicant: 仓敷纺绩株式会社
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/33
Abstract: 光学探针包括：在远紫外区具有光透射特性的第一光学材料的第一部分和与上述面接触而配置的第二光学材料的第二部分。例如，第二光学材料在远紫外区具有比第一部分高的折射率。第二部分在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面。或者，光学探针由在远紫外区具有光透射性的光学材料构成，在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面，在该面附近的折射率在远紫外区高于其它部分的折射率。由此，能够进行溶解在水中的极微量的溶质成分等在远紫外区的分光测定。
-
公开(公告)号：CN101960292B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN200980107696.5
申请日：2009-03-03
Applicant: 仓敷纺绩株式会社
CPC classification number: G01N21/33 , G01N21/552
Abstract: 在使用衰减的全反射的远紫外分光法中，通过使用全反射光的衰减波来测量全反射光。其穿透深度在远紫外范围内的波长范围内等于或大于150nm，其中穿透深度取决于远紫外光的波长、待测量对象的折射率、所述探针的光学材料的折射率以及远紫外光在探针与对象的界面处的入射角。全反射衰减型探针由光学材料制成，所述光学材料被选择为使得穿透深度在远紫外波长范围内等于或高于150nm，并且所述探针与待测量对象在界面处进行接触，并且在所述波长范围内远紫外光以大于临界角的入射角入射在界面上，以便使穿透深度等于或高于150nm。测量来自界面的全反射光并且确定待测量对象的吸光率。
-
公开(公告)号：CN101960292A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200980107696.5
申请日：2009-03-03
Applicant: 仓敷纺绩株式会社
CPC classification number: G01N21/33 , G01N21/552
Abstract: 在使用衰减的全反射的远紫外分光法中，通过使用全反射光的衰减波来测量全反射光。其穿透深度在远紫外范围内的波长范围内等于或大于150nm，其中穿透深度取决于远紫外光的波长、待测量对象的折射率、所述探针的光学材料的折射率以及远紫外光在探针与对象的界面处的入射角。全反射衰减型探针由光学材料制成，所述光学材料被选择为使得穿透深度在远紫外波长范围内等于或高于150nm，并且所述探针与待测量对象在界面处进行接触，并且在所述波长范围内远紫外光以大于临界角的入射角入射在界面上，以便使穿透深度等于或高于150nm。测量来自界面的全反射光并且确定待测量对象的吸光率。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.025 seconds)
