短弧型超高压放电灯
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1407592A

    公开(公告)日:2003-04-02

    申请号:CN02142977.4

    申请日:2002-09-13

    CPC classification number: H01J61/86 H01J61/0732

    Abstract: 本发明涉及一种短弧型超高压放电灯,所述放电灯能提供很高的耐压性,其包括在内部对向地配置一对以钨为主要成分的电极、且封入0.15mg/mm3以上的水银的发光管部以及向其两侧延伸、内部具有金属箔的侧管部,其特征为,在所述电极与所述金属箔之间,具有截面面积比所述电极的截面面积小的其它的金属构件,将所述电极与所述金属箔进行电连接。所述电极配置成在与所述侧管部对向的部分与构成该侧管部的材料形成微小的空间,且由与构成该侧管部的材料对向部分的大直径部及所述金属箔接合部分的小直径部构成。

    半导体晶片的热处理方法

    公开(公告)号:CN1294632C

    公开(公告)日:2007-01-10

    申请号:CN02156174.5

    申请日:2002-12-13

    CPC classification number: H01L21/324 H01L21/67115

    Abstract: 提供了一种半导体晶片热处理方法,采用该方法可以使被处理物即半导体晶片不破损地进行热处理。该方法在通过预热装置对半导体晶片进行达到预定温度的预热之后,再用由闪光放电灯构成的闪光辐射装置进行加热处理,其特征在于:采用预热装置进行加热,预热温度被加以控制,以使用闪光辐射装置加热时的半导体晶片的最大拉伸应力低于半导体晶片自身的拉伸极限强度。

    半导体晶片的热处理方法

    公开(公告)号:CN1424750A

    公开(公告)日:2003-06-18

    申请号:CN02156174.5

    申请日:2002-12-13

    CPC classification number: H01L21/324 H01L21/67115

    Abstract: 提供了一种半导体晶片热处理方法,采用该方法可以使被处理物即半导体晶片不破损地进行热处理。该方法在通过预热装置对半导体晶片进行达到预定温度的预热之后,再用由闪光放电灯构成的闪光辐射装置进行加热处理,其特征在于:采用预热装置进行加热,预热温度被加以控制,以使用闪光辐射装置加热时的半导体晶片的最大拉伸应力低于半导体晶片自身的拉伸极限强度。

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