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公开(公告)号：CN1776403A
公开(公告)日：2006-05-24
申请号：CN200510125124.3
申请日：2005-11-18
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/03 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , G01N2021/0346
Abstract: 本发明的目的在于提供一种即使使用放电灯作为光源时，也可得到高测定精度的微芯片检查装置、以及用于该微芯片检查装置的微芯片及芯片架。一种微芯片检查装置，具备具有吸光光度测定部的微芯片，透过微芯片的吸光光度测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受，其特征在于，设有：孔径部，沿所述微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸，并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光光度测定部；入射光分割反射镜，配置于从孔径部的一端至吸光光度测定部的光路上，且使射入的光的一部分透射，使另一部分反射；以及反射光受光部，用于接受来自该反射镜的反射光。
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公开(公告)号：CN1825091B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200610006486.5
申请日：2006-02-06
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/4738 , G01N21/8483 , G01N2021/478
Abstract: 一种反射率测定装置，即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖，而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下，仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置，具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部(7、8)与受光部(9)，在微芯片(1)的被测定部位(4)上照射来自光放出部(7、8)的光，以受光部(9)来接受来自被测定部位(4)的反射光，以测定被测定部位(4)的反射率，其特征为，是将微芯片(1)的被测定部位(4)以透明构件(6)覆盖的构造，即，光放出部(7、8)配置在被测定部位(4)的正上方，来自光放出部(7、8)的照射区域被收敛在被测定部位(4)内，在包含光放出部(7、8)的发光中心点而垂直于微芯片(1)的假想面上，对于被测定部位(4)的照射区域的端部上的法线，令反射光所形成的角度为θ(°)，令被测定部位正上方所配置的光放出部(7、8)所放射出来的光的扩张角为α(°)，令透明构件(6)的折射率为n时，受光部(9)配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1(1/n)的关系的角度范围θ内。
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公开(公告)号：CN100570331C
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200510125124.3
申请日：2005-11-18
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/03 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , G01N2021/0346
Abstract: 本发明的目的在于提供一种即使使用放电灯作为光源时，也可得到高测定精度的微芯片检查装置、以及用于该微芯片检查装置的微芯片及芯片架。一种微芯片检查装置，具备具有吸光光度测定部的微芯片，透过微芯片的吸光光度测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受，其特征在于，设有：孔径部，沿所述微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸，并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光光度测定部；入射光分割反射镜，配置于从孔径部的一端至吸光光度测定部的光路上，且使射入的光的一部分透射，使另一部分反射；以及反射光受光部，用于接受来自该反射镜的反射光。
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公开(公告)号：CN1752740A
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN200510106812.5
申请日：2005-09-22
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/0303 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , G01N2201/0813
Abstract: 本发明提供一种微片用的吸光度测定单元，即使将放电灯用作测定用光源而进行微片的吸光度测定，测定误差也很小。一种吸光度测定单元，是一种使用微片的吸光度测定单元，由微片和装入该微片的片架构成，其中，该微片由相互贴合的两张板部件构成，在贴合面具有空洞部，该空洞部连通地构成分析液导入部、试剂蓄积部、试剂混合部、和沿该板部件的一端面直线状地配置的吸光度测定部，其中，在片架上形成毛细管部，该毛细管部，其光轴与该吸光度测定部一致，具有比该吸光度测定部的垂直于光轴的剖面径小的开口径，用于导入光。
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公开(公告)号：CN102749444A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210108082.2
申请日：2012-04-13
Applicant: 优志旺电机株式会社
Inventor： 松本茂树
IPC: G01N33/558
Abstract: 提供一种利用免疫层析法、不存在介入人为错误的担忧且能够以高可靠性进行被检物质的检测或者其定量的分析装置。该分析装置具备拍摄装置，该拍摄装置将试验片中的包括反应区域和码区域的分析区域包含在视场区域内，该试验片在同一表面上具有根据被检物质产生显色反应的上述反应区域以及表示与上述显色反应相关联的信息的上述码区域，该分析装置根据上述反应区域中的显色程度来检测上述被检物质，通过拍摄装置获取在第一拍摄条件下拍摄到的分析区域的图像作为码读取用图像数据，并且获取在与第一拍摄条件不同的第二拍摄条件下拍摄到的分析区域的图像作为被检物质检测用图像数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100538332C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200510106812.5
申请日：2005-09-22
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/0303 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , G01N2201/0813
Abstract: 本发明提供一种微片用的吸光度测定单元，即使将放电灯用作测定用光源而进行微片的吸光度测定，测定误差也很小。一种吸光度测定单元，是一种使用微片的吸光度测定单元，由微片和装入该微片的片架构成，其中，该微片由相互贴合的两张板部件构成，在贴合面具有空洞部，该空洞部连通地构成分析液导入部、试剂蓄积部、试剂混合部、和沿该板部件的一端面直线状地配置的吸光度测定部，其中，在片架上形成毛细管部，该毛细管部，其光轴与该吸光度测定部一致，具有比该吸光度测定部的垂直于光轴的剖面径小的开口径，用于导入光。
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公开(公告)号：CN101082621A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710108772.7
申请日：2007-05-31
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/07 , G01N21/314
Abstract: 本发明提供可以使用微芯片以寻求分析装置的基线稳定化、且能够以高精度进行分析的生化学分析装置。本发明的生化学分析装置具备带有保持微芯片的芯片保持部且被旋转驱动的离心转子、光源部、以及受光部。作为微芯片，使用下述微芯片：利用通过离心转子的旋转而产生的离心力，在微芯片本身中进行包括分离处理、称量处理、混合反应处理和将检查液输送到测定池中的处理的前处理动作。将来自于光源部的光照射到微芯片的测定池，通过受光部接受透过了测定池的光，在离心转子的旋转停止的状态下进行对测定池内检查液的光吸收量加以测定以分析检查液的测光动作。
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公开(公告)号：CN1752741A
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN200510106813.X
申请日：2005-09-22
Applicant: 优志旺电机株式会社
CPC classification number: G01N21/03 , B01F13/0059 , B01L3/502707 , B01L3/502715 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , G01N21/31 , G01N2021/0328 , G01N2021/0346
Abstract: 本发明目的在于提供一种微片，没有对检测部的光入射面等带来不良影响的担心，从而可以对吸光度进行正确的测定。一种微片，由板构件构成，包括导入检体的检体导入部、与该检体反应的试剂、混合该试剂和所述检体而生成测定液的混合部、和用于填充该测定液的检测部，其特征在于，所述检测部在长度方向的至少一方的端部形成具有光入射面或者光出射面的凹处。
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公开(公告)号：CN118412440A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202311697619.8
申请日：2023-12-12
Applicant: 优志旺电机株式会社
IPC: H01M4/139 , H01M4/1395 , H01M4/04 , H01M10/0525 , F26B23/00
Abstract: 本发明的课题在于在抑制集电体的温度上升的同时对料浆进行加热干燥。二次电池的电极的制造方法包含：准备工序，准备在负极集电体的至少一面涂布有包含负极活性物质的料浆的工件；以及干燥工序，通过向工件的料浆侧照射料浆处的光吸收率为60％以上的波段的光，对料浆进行加热干燥。在干燥工序中，也可以照射料浆处的光吸收率为60％以上且负极集电体的表面处的光反射率为30％以上的波段的光。
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公开(公告)号：CN102841197B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201210109286.8
申请日：2012-04-13
Applicant: 优志旺电机株式会社
Inventor： 松本茂树
IPC: G01N33/558 , G01N21/78
CPC classification number: G01N33/48771 , G01N21/78 , G01N21/8483
Abstract: 提供一种能够以高可靠性进行例如利用免疫层析法的被检物质的检测或者其定量的分析装置以及分析方法。该分析方法通过将具有根据检体中所包含的规定的被检物质产生显色反应的反应区域的试验片中的反应区域以及背景区域至少包含在视场区域内的拍摄部，获取反应区域和背景区域分别的图像数据，通过分析部进行根据反应区域的图像数据计算上述被检物质的浓度的浓度计算处理、以及根据由拍摄部获取的背景区域的图像数据来判断背景区域的状态是否处于在上述被检物质的检测中对被检物质的每个种类设定的容许范围内的判断处理。分析装置执行上述分析方法。
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