公开(公告)号：CN119439345A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411020598.0

申请日：2024-07-29

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 手塚庆典 ,  仲西雄亮 ,  丹羽泰纪

IPC: G02B5/30 ,  G02B1/10 ,  G02B1/14

Abstract: 一种偏振片、偏振板、偏振片的制造方法和偏振板的制造方法。[课题]提高与保护薄膜的层间密合力。[解决手段]一种偏振片(11)，其是使二色性色素吸附于聚乙烯醇系树脂薄膜并取向而得到的，硼酸交联度为3.3以下，能见度校正单体透射率为40％以上，能见度校正偏振度为99.98％以上。

公开(公告)号：CN117940812A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202280060406.1

申请日：2022-09-08

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 住田幸司 ,  丹羽泰纪 ,  竹内智康

IPC: G02B5/30

Abstract: 本发明提供一种具有优异的光学特性、并且透射轴方向上的吸收轴方向的收缩力的均匀性优异的偏振膜。偏振膜中，二色性色素在聚乙烯醇系树脂膜进行吸附取向。在偏振膜中，可见度修正单体透射率Ty为43.20％以上，可见度修正偏振度Py为99.9970％以上。在偏振膜的透射轴方向上，膜厚的最大值与最小值之差为2.1μm以下。

公开(公告)号：CN109490323A

公开(公告)日：2019-03-19

申请号：CN201811059584.4

申请日：2018-09-11

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 丹羽泰纪

IPC: G01N21/95

Abstract: 本发明提供高通用性的用于检查圆偏振板或椭圆偏振板的缺陷或者在圆偏振光或椭圆偏振光的生成中使用的相位差板的缺陷的缺陷检查装置及缺陷检查方法、及使用该缺陷检查方法的圆偏振板或椭圆偏振板的制造方法及相位差板的制造方法。缺陷检查装置具备：光照射部，其配置在圆偏振板或椭圆偏振板所具有的直线偏振板侧，向圆偏振板或椭圆偏振板的摄像区域照射检查光；反射构件，其在从圆偏振板或椭圆偏振板观察时配置在与光照射部相反的一侧，将从被照射了检查光的圆偏振板或椭圆偏振板输出的光向圆偏振板或椭圆偏振板侧反射；摄像部，其在从圆偏振板或椭圆偏振板观察时配置在与光照射部相同的一侧。