公开(公告)号：CN101981438A

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200980111518.X

申请日：2009-03-26

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 篠塚淳彦 ,  笠井利行 ,  山根尚德

IPC: G01N21/892

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N2021/8861 ,  G01N2021/888 ,  G01N2021/9511

Abstract: 使用缺陷检查装置对带状的偏光薄膜进行缺陷的检出(S2)，基于缺陷的检出结果制作出表示缺陷的位置的缺陷位置数据并保存到存储介质中(S3)，将带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上(S5)，从滚筒拉出带状的偏光薄膜(S6)，对带状的偏光薄膜层叠其它薄膜(S7)，在层叠了其它薄膜后，读入保存在存储介质中的缺陷位置数据，且基于读入的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置(S8)，基于已确定的缺陷位置，在所述其它薄膜上的缺陷的附近位置上形成记号(S9)。由此，能够在偏光薄膜上被缺陷检查装置检出的缺陷的附近位置上形成记号，而不会出缺陷检查装置检出的缺陷中只包含允许缺陷的部分不能作为产品使用的情况。