切削工具
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113226602B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN201980084637.4

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 一种切削工具,其包括基材和被覆基材的被膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且以此为基础创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上,并且在下侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm以上20μm以下。

    切削工具
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113226602A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN201980084637.4

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 一种切削工具,其包括基材和被覆基材的被膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且以此为基础创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上,并且在下侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm以上20μm以下。

    切削工具
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113226603B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN201980084743.2

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 一种切削工具,其具备基材和被覆基材的被膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且以此为基础创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上,并且在下侧部,(110)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm以上20μm以下。

    切削工具
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112930234B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN201980069701.1

    申请日:2019-12-12

    Abstract: α‑氧化铝晶粒所占据的面积比率为大于等于一种切削工具,其包括基材和被覆基材的被 5%且小于50%;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝 以上20μm以下。层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且基于此创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部中,由(006)面的法线方向相对于上述第二界面的法线方向在±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占据的面积比率为50%以上,并且在下侧部中,由(012)面、(104)面、(110)面、(113)面、(116)面、

    切削工具
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113226603A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN201980084743.2

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 一种切削工具,其具备基材和被覆基材的被膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且以此为基础创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部,(006)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上,并且在下侧部,(110)面的法线方向在上述第二界面的法线方向±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占的面积比为50%以上;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm以上20μm以下。

    切削工具
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112930234A

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201980069701.1

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 一种切削工具,其包括基材和被覆基材的被膜,其中:被膜包括设置在基材上的α‑氧化铝层;α‑氧化铝层包含α‑氧化铝晶粒;α‑氧化铝层包括下侧部和上侧部;当沿着包括第二界面的法线的平面切割α‑氧化铝层以获得截面,并使用场发射扫描显微镜对该截面进行电子背散射衍射分析以识别α‑氧化铝晶粒的晶体取向,并且基于此创建彩色图时,在彩色图中,在上侧部中,由(006)面的法线方向相对于上述第二界面的法线方向在±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占据的面积比率为50%以上,并且在下侧部中,由(012)面、(104)面、(110)面、(113)面、(116)面、(300)面、(214)面和(006)面各自的法线方向相对于上述第二界面的法线方向在±15°以内的α‑氧化铝晶粒所占据的面积比率为大于等于5%且小于50%;并且α‑氧化铝层的厚度为3μm以上20μm以下。

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