公开(公告)号：CN1062810C

公开(公告)日：2001-03-07

申请号：CN94193511.6

申请日：1994-07-15

Applicant: 俄亥俄电子刻板公司

Inventor： 保尔·L·霍罗科 ,  戴维·R·塞茨 ,  科蒂斯·伍兹

IPC: B41C1/02 ,  G01B11/28

CPC classification number: H04N1/00002 ,  B41C1/04 ,  B41C1/045 ,  B44B3/009 ,  B44B3/061 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/33078 ,  G05B2219/37358 ,  G05B2219/37572 ,  G05B2219/37574 ,  G05B2219/45163 ,  G05B2219/45178 ,  G05B2219/45212 ,  G05B2219/49235 ,  G05B2219/50057 ,  H04N1/06 ,  H04N1/0671 ,  H04N1/19 ,  H04N1/40025 ,  H04N1/4005 ,  H04N1/4058 ,  H04N1/4076 ,  H04N1/4078

Abstract: 本发明提供了一种与诸如照相凹版雕刻机之类雕刻机一起使用的误差检测设备和方法。所确定的误差值E对应于一组预定设置参数和圆筒(10)上雕刻区一部分的实测值之差。然后该误差值E用于调整雕刻机，使其根据预定设置参数雕刻实际切痕或蚀痕。其优越之处是这种误差检测和校系统适合于提供一个用于雕刻圆赂(10)的闭环系统。该设备和方法可在雕刻机初始设置过程和正常操作过程中使用。

公开(公告)号：CN1134131A

公开(公告)日：1996-10-23

申请号：CN94193511.6

申请日：1994-07-15

Applicant: 俄亥俄电子刻板公司

Inventor： 保尔·L·霍罗科 ,  戴维·R·塞茨 ,  科蒂斯·伍兹

IPC: B41C1/02 ,  G01B11/28

CPC classification number: H04N1/00002 ,  B41C1/04 ,  B41C1/045 ,  B44B3/009 ,  B44B3/061 ,  G05B19/401 ,  G05B2219/33078 ,  G05B2219/37358 ,  G05B2219/37572 ,  G05B2219/37574 ,  G05B2219/45163 ,  G05B2219/45178 ,  G05B2219/45212 ,  G05B2219/49235 ,  G05B2219/50057 ,  H04N1/06 ,  H04N1/0671 ,  H04N1/19 ,  H04N1/40025 ,  H04N1/4005 ,  H04N1/4058 ,  H04N1/4076 ,  H04N1/4078

Abstract: 本发明提供了一种与诸如照相凹版雕刻机之类雕刻机一起使用的误差检测设备和方法。所确定的误差值E对应于一组预定设置参数和圆筒(10)上雕刻区一部分的实测值之差。然后该误差值E用于调整雕刻机，使其根据预定设置参数雕刻实际切痕或蚀痕。其优越之处是这种误差检测和校系统适合于提供一个用于雕刻圆筒(10)的闭环系统。该设备和方法可在雕刻机初始设置过程和正常操作过程中使用。