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发明公开
光学制品检查设备和方法审中-实审

公开(公告)号：CN118159823A

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202180103774.5

申请日：2021-10-27

Applicant: 光学转变有限公司

Inventor： N·墨菲 , F·布莱克本 , J·黑兹尔 , A·科罗斯 , W·比默 , L·阿斯库克劳福特

IPC: G01M11/0214

Abstract: 一种被配置用于检查光学制品的检查设备，包括具有检查工位的检查室以及具有可转位保持平台的保持室，该可转位保持平台具有多个保持狭槽，每个保持狭槽被配置用于接纳适于固定光学制品的保持器。可转位保持平台被配置成将选定的保持器转位到检查位置。检查设备进一步包括夹持器机构，该夹持器机构被配置用于将该选定的保持器从检查位置传送到检查室。还披露了一种使用检查设备来检查光学制品的方法。

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