一种针对粉末样品EPMA检测的快速制样方法

    公开(公告)号:CN118655166A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410779821.3

    申请日:2024-06-17

    Abstract: 本发明提供一种粉末样品EPMA检测的快速制样方法,涉及光谱分析技术领域。该制样方法包括以下步骤:步骤一:将粉末样品与AB强力胶中的A胶在固体平面载体上混合均匀;步骤二:在步骤一得到的混合物中加入B胶,搅匀并铺平后自然晾干;步骤三:对晾干后的样品进行粗磨‑细磨‑抛光得到EPMA检测用样品。该制样方法步骤简单易行,显著缩短了粉末粘片法的制样时间;制备的样品密度相对较大,更容易抽真空且不易堵塞真空枪;样品可以在更高的真空度下进行检测,同样真空度条件下,本方法制备的样品更能保证电子枪的安全,更能够保证检测的正常进行。

    一种快速磨制光片的方法

    公开(公告)号:CN104515698B

    公开(公告)日:2017-10-17

    申请号:CN201410845837.6

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明涉及一种快速磨制光片的方法,尤其是微量样品的快速制样,属于岩矿鉴定领域。本发明采用玻璃或瓷砖小块作胎体,其上熔融光学树脂胶形成薄膜,在薄膜内撒入样品,冷却凝固后磨制成光片。用光学树脂代替环氧树脂和固结剂,使固化时间由24小时缩短到5分钟左右,磨制一个光片总共耗时15分以内,节约了大量时间;同时省去了环氧树脂配制工序及器具,作为胎体的材料可用废弃的玻璃或瓷砖,而且胎体可以重复使用,大量减少了材料消耗;极微量的样品(甚至一粒)就可以制样,需要的树胶也只有粒径4mm~5mm大小,样品和树脂消耗极少。

    一种快速磨制光片的方法

    公开(公告)号:CN104515698A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201410845837.6

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明涉及一种快速磨制光片的方法,尤其是微量样品的快速制样,属于岩矿鉴定领域。本发明采用玻璃或瓷砖小块作胎体,其上熔融光学树脂胶形成薄膜,在薄膜内撒入样品,冷却凝固后磨制成光片。用光学树脂代替环氧树脂和固结剂,使固化时间由24小时缩短到5分钟左右,磨制一个光片总共耗时15分以内,节约了大量时间;同时省去了环氧树脂配制工序及器具,作为胎体的材料可用废弃的玻璃或瓷砖,而且胎体可以重复使用,大量减少了材料消耗;极微量的样品(甚至一粒)就可以制样,需要的树胶也只有粒径4mm~5mm大小,样品和树脂消耗极少。

    一种扫描电镜凹槽钉清洁装置

    公开(公告)号:CN221934709U

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202420523581.6

    申请日:2024-03-18

    Abstract: 本实用新型涉及扫描电镜设备技术领域,具体提供一种扫描电镜凹槽钉清洁装置,本实用新型的清洁装置包括:刀刷组件、箱体以及固定组件,其中:固定组件设置在箱体内部,用于固定安装多个待清扫的凹槽钉;刀刷组件包括电动导轨、滑动板、摆块以及刀刷板,电动导轨设置在箱体顶部,且电动导轨的延伸方向与凹槽钉的顶面平行;滑动板与电动导轨滑动连接,以使滑动板通过电动控制在电动导轨上往返运动;刀刷板具有刀头结构和刷头结构,滑动板底部通过摆块与刀刷板转动连接,以使刀刷板在第一工位和第二工位之间进行切换,当刀刷板处于第一工位,刀头结构用于剐掉凹槽钉外层的物质,当刀刷板处于第二工位,刷头结构用于对凹槽钉的外层进行进一步清扫。

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