测试装置、测试系统以及测试方法

    公开(公告)号:CN119901987A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202311415480.3

    申请日:2023-10-27

    Abstract: 本公开提供了一种测试装置、测试系统以及测试方法,属于天线技术领域,旨在提高液晶移相器的测试准确性,测试装置包括:至少一个测试单元,所述测试单元包括移相结构和测试结构,所述测试结构与所述移相结构层叠设置以构成层叠结构;其中,所述移相结构包括相对设置的两个基板,以及设置在两个所述基板中的液晶,每个所述基板在靠近所述液晶的一侧均设置有电极,所述电极用于向液晶的偏转提供驱动电压;所述测试结构包括两个射频接口,被配置为用于将一个所述射频接口输入的电磁波信号耦合入所述移相结构,另一个所述射频接口用于将经所述移相结构移相后的电磁波信号输出。

    天线装置以及通信装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119905813A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202311415903.1

    申请日:2023-10-27

    Abstract: 本公开提供了一种天线装置以及通信装置,该天线装置可以包括:馈源结构层,以及设置在所述馈源结构层上的天线结构层;其中,所述馈源结构层包括至少一个馈源,所述至少一个馈源在目标平面上排布,所述馈源包括内部中空的管状导体,所述导体的轴平行于所述目标平面,所述导体在靠近所述天线结构层的一侧开设有缝隙;所述天线结构层包括多个天线单元,所述天线单元在所述目标平面上的正投影,与所述缝隙在所述目标平面上的正投影有交叠;其中,所述馈源用于产生电磁波,所述电磁波沿所述导体的轴向方向传输,并经所述缝隙出射后耦合至所述天线单元,所述天线单元用于将耦合到的电磁波向外辐射。

    液晶器件、液晶天线及通信装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119921103A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202311436447.9

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本公开提供了一种液晶器件、液晶天线及通信装置,涉及天线技术领域。液晶器件包括第一基板、第二基板、多个液晶移相器以及多个屏蔽结构,第一基板和第二基板相对且间隔设置,多个液晶移相器位于第一基板和第二基板之间,且多个液晶移相器沿平行于第一基板的方向间隔设置;多个屏蔽结构位于第一基板和第二基板之间,多个屏蔽结构中的至少一个位于相邻两个液晶移相器之间;沿垂直于第一基板的方向,屏蔽结构包括依次层叠设置的第一导电结构、介质以及第二导电结构,第一导电结构更靠近第一基板,第一导电结构和第二导电结构至少部分交叠。降低了相邻液晶移相器之间的串扰、互耦。

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