公开(公告)号：CN118132404B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202410576360.X

申请日：2024-05-10

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  中国电力科学研究院有限公司

Inventor： 许晶 ,  王鑫 ,  杜君 ,  樊琳 ,  丁娴 ,  李腾浩 ,  王晓东 ,  聂睿 ,  郭艳鹏 ,  王爽 ,  赵婷 ,  杨艺宁 ,  付利莉 ,  梁召庆 ,  王志强 ,  赵世杰

IPC: G06F11/34 ,  G06F9/50

Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。

公开(公告)号：CN118132404A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202410576360.X

申请日：2024-05-10

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  中国电力科学研究院有限公司

Inventor： 许晶 ,  王鑫 ,  杜君 ,  樊琳 ,  丁娴 ,  李腾浩 ,  王晓东 ,  聂睿 ,  郭艳鹏 ,  王爽 ,  赵婷 ,  杨艺宁 ,  付利莉 ,  梁召庆 ,  王志强 ,  赵世杰

IPC: G06F11/34 ,  G06F9/50

Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。