量子噪声强度确定方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN114462614B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202210134526.3

    申请日:2022-02-14

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子噪声强度确定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及量子计算机领域,尤其涉及量子噪声缓释技术领域。实现方案为:获取最大混态,以重复运行量子测量设备以对最大混态进行第一数值次数的测量;获取最大叠加态,以重复运行量子测量设备以对最大叠加态进行第二数值次数的测量;分别对最大混态和最大叠加态的测量结果进行统计,以获得最大混态的至少一个测量结果各自出现的第一概率值以及最大叠加态相对应测量结果各自出现的第二概率值;以及基于至少一个测量结果各自的第一概率值与相对应的第二概率值之间的差值,确定量子测量设备的量子噪声强度。

    量子测量设备性能比较方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN115994582B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202211363226.9

    申请日:2022-11-02

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子测量设备性能比较方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及计算机领域,尤其涉及量子计算机技术领域。实现方案为:确定待比较的第一量子测量设备和第二量子测量设备;重复以下操作K次:在单量子比特酉矩阵集合中随机采样n个单量子比特酉矩阵;对于第一基态和第二基态的多种组合中的每个重复以下操作Nshots次:将n个酉矩阵按相同的顺序分别作用在第一基态和第二基态的每个比特上,以对作用后的第一基态和第二基态分别进行测量;对于每个组合,确定预设测量结果所出现的第一概率和第二概率;基于第一概率和第二概率,确定第一量子测量设备和第二量子测量设备与预设测量结果所对应的POVM元素的测量保真度。

    量子噪声强度确定方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN114970871A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210614321.5

    申请日:2022-05-31

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子噪声强度确定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及量子计算机领域,尤其涉及量子噪声缓释技术领域。实现方案为:获取最大混态;重复运行量子测量设备以对最大混态进行第一数值次数的测量,以获得测量结果;在所获取的最大叠加态的每一个量子比特上施加相位门;对相位θ进行多次采样,以使得对于采样得到的每一个θ值,重复运行量子测量设备以对最大叠加态进行第二数值次数的测量,以获得测量结果;对最大混态的测量结果以及每一个θ值所对应的所述最大叠加态的测量结果进行统计,以获得第一概率值和第二概率值;以及基于第一概率值和第二概率值之间的差值,确定量子测量设备的量子噪声强度。

    量子噪声强度确定方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN114462614A

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202210134526.3

    申请日:2022-02-14

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子噪声强度确定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及量子计算机领域,尤其涉及量子噪声缓释技术领域。实现方案为:获取最大混态,以重复运行量子测量设备以对最大混态进行第一数值次数的测量;获取最大叠加态,以重复运行量子测量设备以对最大叠加态进行第二数值次数的测量;分别对最大混态和最大叠加态的测量结果进行统计,以获得最大混态的至少一个测量结果各自出现的第一概率值以及最大叠加态相对应测量结果各自出现的第二概率值;以及基于至少一个测量结果各自的第一概率值与相对应的第二概率值之间的差值,确定量子测量设备的量子噪声强度。

    量子噪声强度确定方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN114970871B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202210614321.5

    申请日:2022-05-31

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子噪声强度确定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及量子计算机领域,尤其涉及量子噪声缓释技术领域。实现方案为:获取最大混态;重复运行量子测量设备以对最大混态进行第一数值次数的测量,以获得测量结果;在所获取的最大叠加态的每一个量子比特上施加相位门;对相位θ进行多次采样,以使得对于采样得到的每一个θ值,重复运行量子测量设备以对最大叠加态进行第二数值次数的测量,以获得测量结果;对最大混态的测量结果以及每一个θ值所对应的所述最大叠加态的测量结果进行统计,以获得第一概率值和第二概率值;以及基于第一概率值和第二概率值之间的差值,确定量子测量设备的量子噪声强度。

    量子测量设备性能比较方法及装置、电子设备和介质

    公开(公告)号:CN115994582A

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202211363226.9

    申请日:2022-11-02

    Inventor: 王琨 唐双红

    Abstract: 本公开提供了一种量子测量设备性能比较方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,涉及计算机领域,尤其涉及量子计算机技术领域。实现方案为:确定待比较的第一量子测量设备和第二量子测量设备;重复以下操作K次:在单量子比特酉矩阵集合中随机采样n个单量子比特酉矩阵;对于第一基态和第二基态的多种组合中的每个重复以下操作Nshots次:将n个酉矩阵按相同的顺序分别作用在第一基态和第二基态的每个比特上,以对作用后的第一基态和第二基态分别进行测量;对于每个组合,确定预设测量结果所出现的第一概率和第二概率;基于第一概率和第二概率,确定第一量子测量设备和第二量子测量设备与预设测量结果所对应的POVM元素的测量保真度。

Patent Agency Ranking