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公开(公告)号:CN119413579B
公开(公告)日:2025-04-25
申请号:CN202510019497.X
申请日:2025-01-07
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供一种屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质,涉及屏幕测量技术领域。测量方法包含步骤S1至步骤S6。S1、对TFT‑LCD屏幕进行预处理,以在其表面覆上一层具有随机分布的散斑图案。S2、将TFT‑LCD屏幕样品放置在载物台。S3、调节万能材料试验机的压头的初始位置,设置压头下落速率,以及下压计划。S4、调试三维数字图像相关测量系统,并对TFT‑LCD屏幕进行挤压测试,获取测试数据。S5、对三维数字图像相关测量系统的CCD相机进行标定,获取世界坐标系和相机坐标系之间的转换模型。S6、根据所述测试数据和所述转换模型,计算在TFT‑LCD屏幕受外荷载作用下的位移场及应变场。
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公开(公告)号:CN119413579A
公开(公告)日:2025-02-11
申请号:CN202510019497.X
申请日:2025-01-07
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供一种屏幕表面位移场和应变场的测量方法、装置、设备和介质,涉及屏幕测量技术领域。测量方法包含步骤S1至步骤S6。S1、对TFT‑LCD屏幕进行预处理,以在其表面覆上一层具有随机分布的散斑图案。S2、将TFT‑LCD屏幕样品放置在载物台。S3、调节万能材料试验机的压头的初始位置,设置压头下落速率,以及下压计划。S4、调试三维数字图像相关测量系统,并对TFT‑LCD屏幕进行挤压测试,获取测试数据。S5、对三维数字图像相关测量系统的CCD相机进行标定,获取世界坐标系和相机坐标系之间的转换模型。S6、根据所述测试数据和所述转换模型,计算在TFT‑LCD屏幕受外荷载作用下的位移场及应变场。
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