公开(公告)号：CN109580482A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201811470253.X

申请日：2018-12-04

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 姜家宗 ,  张松 ,  吴昊天 ,  符学龙

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种纳米颗粒强化气液传质过程中微观状态观测装置及其方法。由激光发生器产生的激光经光阑、透镜、滤镜以及双色镜的调整和过滤后垂直从底部射入微通道气液反应池的气液微通道底部并激发该处附近的荧光纳米颗粒，产生的荧光信息再经过物镜、双色镜、透镜以及反光镜后被图像采集设备接收并传入终端处理器，终端处理器通过计算获得数字图像实验结果，实验结果经MATLAB图像处理程序分析得出传质过程中纳米颗粒速度及分布参数。本发明采用显微摄影技术对设计的微通道气液传质界面处的纳米颗粒进行微观状态观测，实现了纳米流体强化气液传质过程中纳米颗粒作用效果的直接观测，对于深入研究纳米颗粒强化气液传质机理具有重要意义。

公开(公告)号：CN208476729U

公开(公告)日：2019-02-05

申请号：CN201820778995.8

申请日：2018-05-24

Applicant: 华北电力大学

Inventor： 姜家宗 ,  吴昊天 ,  张松 ,  刘雷

IPC: G01N15/00

Abstract: 本实用新型公开了一种用于观察纳米颗粒微观运动的实验装置，所述实验装置包括移动限制框、样品池和测微装置；其中，所述移动限制框包括左限制块、玻璃片和右限制块，其位于装置的最底端，用于固定样品池和测微装置；所述样品池包括气室、气体入口、液室、液体入口和固定连接块，样品池的左端与测微装置的右端固定连接，样品池的底端固定连接在玻璃片的上表面；所述测微装置包括侧杆、测微头固定架和测微头，所述侧杆的左端嵌入固定连接块的内部，所述测微头固定架固定连接在右限制块的上表面，所述测微头安装在测微头固定架上。本实用新型实现了在实验台的工作环境下，观察气液界面处和液相主体中不同位置的纳米颗粒的微观运动。