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公开(公告)号：CN116519710A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310478950.4
申请日：2023-04-28
Applicant: 华北电力大学(保定)
Abstract: 本发明公开了一种用于复合绝缘子表面污秽状态的检测方法及系统，包括：采集污秽绝缘子的高光谱图像，获取绝缘子区域的像素点的高光谱数据和感兴趣区域的平均光谱数据；根据高光谱数据和平均光谱数据，构建高光谱数据库，通过黑白校正、标准正态变换以及去除趋势校正，对高光谱数据库的光谱数据进行预处理，并采用选择性分段主成分分析法对全波段进行分组降维处理；通过构建多分类半监督拟牛顿支持向量机模型，将降维处理后的光谱数据，作为模型的输入数据，对光谱数据对应的污秽绝缘子的污秽状态进行识别；本发明提出的多分类半监督拟牛顿支持向量机模型可以利用少量标记样本和大量的未标记样本进行训练，以达到降低标记成本，提高模型泛化能力的目的。
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