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发明公开
GNSS掩星电离层廓线文件质量分析的方法及系统审中-实审

公开(公告)号：CN116243342A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202310105343.3

申请日：2023-02-09

Applicant: 华南农业大学

Inventor： 张瑞 , 付娜 , 陈芊宇 , 苏利娜 , 王长委 , 郑晓波

IPC: G01S19/07

Abstract: 本发明公开了一种GNSS掩星电离层廓线文件质量分析的方法及系统，其方法包括：读取掩星电离层廓线文件，并提取高度在140km以上的掩星电离层廓线数据；对所述掩星电离层廓线数据进行质量检核参数解算；对进行质量检核参数解算后的掩星电离层廓线数据进行质量分析得出分析结果；基于分析结果将合格廓线输出到合格廓线文件夹中。本发明可以保证计算精度的同时提高运算速度；能对任意廓线文件进行精度评定。

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