公开(公告)号：CN105678757A

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN201511034482.3

申请日：2015-12-31

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 李波 ,  温亿明 ,  赖陆波 ,  詹明俊 ,  高航

IPC: G06T7/00 ,  G01B11/02

CPC classification number: G01B11/02

Abstract: 本发明公开了一种物体位移测量方法，包括以下步骤：1、选取第一帧图像P1和第一帧后的任意一帧图像M1；2、对图像进行灰度化处理；3、得到P2和M2；4、在P1中框出特定区域作为模板T1；5、得到与T1相似的匹配区域；6、实现像素级匹配；7、计算n*n区域的每个像素点相关系数，选取拟合得到的曲面的最大值的坐标作为匹配点；8、得到在M2中对应的坐标位置；9、利用模版T1，选取在P2中对应的模板T2；10、计算T2在每个点上的相关系数；11、将最佳匹配点对应的坐标值与模板在P1中的坐标进行比较；12、重复步骤4～11计算位移的统计平均值，以统计平均值作为最终位移结果。具有计算效率高等优点。

公开(公告)号：CN105678757B

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201511034482.3

申请日：2015-12-31

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 李波 ,  温亿明 ,  赖陆波 ,  詹明俊 ,  高航

IPC: G06T7/32 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明公开了一种物体位移测量方法，包括以下步骤：1、选取第一帧图像P1和第一帧后的任意一帧图像M1；2、对图像进行灰度化处理；3、得到P2和M2；4、在P1中框出特定区域作为模板T1；5、得到与T1相似的匹配区域；6、实现像素级匹配；7、计算n*n区域的每个像素点相关系数，选取拟合得到的曲面的最大值的坐标作为匹配点；8、得到在M2中对应的坐标位置；9、利用模版T1，选取在P2中对应的模板T2；10、计算T2在每个点上的相关系数；11、将最佳匹配点对应的坐标值与模板在P1中的坐标进行比较；12、重复步骤4～11计算位移的统计平均值，以统计平均值作为最终位移结果。具有计算效率高等优点。