一种用于电子元器件计数的检测方法

    公开(公告)号:CN111462061A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010212287.X

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明公开了一种用于电子元器件计数的检测方法,通过该检测方法可实现对电子元器件计数检测的自动化。该检测方法首先通过提取X光拍摄的电子元器件封装图像,进行阈值分割后,利用形状面积特征提取出需要处理的图像区域;然后对经过预处理的图像选择合适的区域创建NCC匹配模板;最后对提取出需要处理的图像区域进行NCC模板匹配,统计匹配成功的个数就是电子元器件的数量。本发明提出的检查方法具有检测速度快、准确率高的特点。

    一种用于电子元器件计数的检测方法

    公开(公告)号:CN111462061B

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202010212287.X

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明公开了一种用于电子元器件计数的检测方法,通过该检测方法可实现对电子元器件计数检测的自动化。该检测方法首先通过提取X光拍摄的电子元器件封装图像,进行阈值分割后,利用形状面积特征提取出需要处理的图像区域;然后对经过预处理的图像选择合适的区域创建NCC匹配模板;最后对提取出需要处理的图像区域进行NCC模板匹配,统计匹配成功的个数就是电子元器件的数量。本发明提出的检查方法具有检测速度快、准确率高的特点。

    一种用于芯片点胶情况的检测方法

    公开(公告)号:CN110555829A

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201910739542.3

    申请日:2019-08-12

    Inventor: 刘屿 郭勇 谢宏威

    Abstract: 本发明公开了一种用于芯片点胶情况的检测方法,通过提出此检测方法,实现对芯片点胶情况检测的自动化。该检测方法首先通过预先选择一张无点胶的芯片图片,对其进行增强对比度、阈值分割操作,利用形状面积特征提取槽检测区域和溢胶检测区域;然后对无点胶的芯片图片选择合适的区域作为NCC匹配模板,对点胶芯片图片利用模板匹配找到位置,并通过仿射变换找到槽检测区域和溢胶检测区域;最后计算检测区域中胶水的面积,根据面积情况判断芯片点胶情况。本发明提出的检查方法具有检测速度快、准确率高的特点。

    基于改进霍夫变换算法的单晶硅太阳能晶片图像定位方法

    公开(公告)号:CN111199563B

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN201911157284.4

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于改进的霍夫变换算法的单晶硅太阳能晶片图像定位方法,该方法首先获取参考图像、目标图像以及参考图像ROI区域标准标记点和边界顶点的坐标;然后用改进的霍夫变换算法检测出目标图像ROI区域边界的直线方程;求取检测出的边界直线方程之间的交点作为目标图像ROI区域的标记点;最后基于参考图像ROI区域标准标记点和目标图像ROI区域标记点的坐标,构造仿射变换矩阵,将参考图像ROI区域的边界顶点依次仿射映射到目标图像中,这些仿射映射到目标图像中的边界顶点依次用直线连接起来构成的区域便是目标图像的ROI区域。本发明能实时准确地定位出目标图像的ROI区域,方便后续对图像ROI区域进行缺陷检测。

    一种用于芯片点胶情况的检测方法

    公开(公告)号:CN110555829B

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN201910739542.3

    申请日:2019-08-12

    Inventor: 刘屿 郭勇 谢宏威

    Abstract: 本发明公开了一种用于芯片点胶情况的检测方法,通过提出此检测方法,实现对芯片点胶情况检测的自动化。该检测方法首先通过预先选择一张无点胶的芯片图片,对其进行增强对比度、阈值分割操作,利用形状面积特征提取槽检测区域和溢胶检测区域;然后对无点胶的芯片图片选择合适的区域作为NCC匹配模板,对点胶芯片图片利用模板匹配找到位置,并通过仿射变换找到槽检测区域和溢胶检测区域;最后计算检测区域中胶水的面积,根据面积情况判断芯片点胶情况。本发明提出的检查方法具有检测速度快、准确率高的特点。

    基于改进的霍夫变换算法的单晶硅太阳能晶片图像定位方法

    公开(公告)号:CN111199563A

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201911157284.4

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于改进的霍夫变换算法的单晶硅太阳能晶片图像定位方法,该方法首先获取参考图像、目标图像以及参考图像ROI区域标准标记点和边界顶点的坐标;然后用改进的霍夫变换算法检测出目标图像ROI区域边界的直线方程;求取检测出的边界直线方程之间的交点作为目标图像ROI区域的标记点;最后基于参考图像ROI区域标准标记点和目标图像ROI区域标记点的坐标,构造仿射变换矩阵,将参考图像ROI区域的边界顶点依次仿射映射到目标图像中,这些仿射映射到目标图像中的边界顶点依次用直线连接起来构成的区域便是目标图像的ROI区域。本发明能实时准确地定位出目标图像的ROI区域,方便后续对图像ROI区域进行缺陷检测。

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