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公开(公告)号:CN105510800B
公开(公告)日:2019-06-11
申请号:CN201510851987.2
申请日:2015-12-01
Applicant: 华大半导体有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试装置,该装置包括:电子标签芯片以及测试设备;其中,电子标签芯片,用于接收测试设备发送的测试命令,解码后,将测试状态输出,供测试设备采样;测试设备是通用或专用设备,用于向电子标签芯片发送测试命令,根据接收的输出状态,确定电子标签的功能是否正确。本发明还提供了一种简化PAD设计的电子标签测试实现方法,采用本发明所述的装置和方法,实现了更大的测试覆盖率,并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量,有利于减小标签芯片的面积,从而降低芯片成本。
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公开(公告)号:CN109145517A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201811168045.4
申请日:2018-10-08
Applicant: 华大半导体有限公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5068 , G06F17/5036
Abstract: 本发明公开了一种芯片设计工程改变命令ECO方法,包括:对芯片存在的缺陷进行逻辑分析;基于所述逻辑分析修改功能代码;进行网表逻辑锥分析,寻找网表中对应功能代码所处的逻辑锥,将需要修改的代码功能用标准单元实现,进行综合逻辑表达;根据网表逻辑锥分析,手动修改网表,修改标准单元连接关系,实现与功能代码修改相对应的功能;以及验证修改是否正确。
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公开(公告)号:CN107589362A
公开(公告)日:2018-01-16
申请号:CN201610529684.3
申请日:2016-07-07
Applicant: 华大半导体有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种基于FPGA的射频标签测试装置,该装置包括:FPGA测试板和探卡;其中,电子标签芯片用于接收FPGA测试板发送的测试命令,解码后执行测试操作,测试完成后将测试状态输出,供FPGA测试板采样;FPGA测试板一方面接收测试设备发送的测试命令,完成命令解码和数据编码,发送给电子标签芯片,另一方面接收电子标签芯片测试完成后的测试状态,发送给测试设备;探卡是被测电子标签芯片和测试设备的电接触界面;测试设备向FPGA测试板发送测试命令和数据,根据FPGA测试板的输出测试状态,确定电子标签芯片的功能是否正确。本发明还提供了一种基于FPGA的射频标签测试方法。
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公开(公告)号:CN107038472A
公开(公告)日:2017-08-11
申请号:CN201610079072.9
申请日:2016-02-04
Applicant: 华大半导体有限公司
IPC: G06K19/073
CPC classification number: G06K19/073
Abstract: 本发明提供一种RFID标签时钟频率动态调整的方法与装置。所述方法和装置通过利用接收到信号的前导码来实现对标签时钟频率偏差的检测,从而动态调整时钟频率,实现返回数据链路的频率的偏差减小。
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公开(公告)号:CN106911425A
公开(公告)日:2017-06-30
申请号:CN201511034144.X
申请日:2015-12-23
Applicant: 华大半导体有限公司
CPC classification number: H04L1/0044 , G06K7/10 , G06K19/07 , H04L25/062
Abstract: 本发明公开了一种射频识别(RFID)标签解码的方法和装置,方法包括:读写器发送的超高频信号经由标签模拟前端电路进行整流和解调后,得到标签数字接收信号;对得到的所述标签数字接收信号demo_data进行同步,得到同步后的数字接收信号demo_data_sync;对同步后的数字接收信号demo_data_sync的符号进行计数,得到当前符号的长度计数值N2;根据所述当前符号的长度计数值N2与前导判断阈值和解码阈值的比较,判断出前导并解码出数据比特信息,以实现对接收信号的前导判决和数据解码操作。
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公开(公告)号:CN105510800A
公开(公告)日:2016-04-20
申请号:CN201510851987.2
申请日:2015-12-01
Applicant: 华大半导体有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试装置,该装置包括:电子标签芯片以及测试设备;其中,电子标签芯片,用于接收测试设备发送的测试命令,解码后,将测试状态输出,供测试设备采样;测试设备是通用或专用设备,用于向电子标签芯片发送测试命令,根据接收的输出状态,确定电子标签的功能是否正确。本发明还提供了一种简化PAD设计的电子标签测试实现方法,采用本发明所述的装置和方法,实现了更大的测试覆盖率,并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量,有利于减小标签芯片的面积,从而降低芯片成本。
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