一种干扰下高精度多径时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118074823B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410473417.3

    申请日:2024-04-19

    Abstract: 本发明公开了一种干扰下高精度多径时延测量方法及装置,PC端一生成基带探测信号,并经过零中频处理后直接由无线电发射端进行射频发送,携带信道多径时延信息的基带探测信号被无线电接收端接收,并经PC端二进行参数提取,从而实现多径时延的测量,所述方法由PC端二执行,包括:在时域上接收若干组携带信道多径时延信息的基带探测信号,并使用卡尔曼滤波进行自适应降噪处理,得到降噪信号后进行滑动相关处理;采用加权傅里叶变换松弛对滑动相关后信号进行参数提取,得到信道多径时延信息。本发明在大幅度提高多径时延测量精度的同时,降低了信道测量的成本。

    一种干扰下高精度多径时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118074823A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410473417.3

    申请日:2024-04-19

    Abstract: 本发明公开了一种干扰下高精度多径时延测量方法及装置,PC端一生成基带探测信号,并经过零中频处理后直接由无线电发射端进行射频发送,携带信道多径时延信息的基带探测信号被无线电接收端接收,并经PC端二进行参数提取,从而实现多径时延的测量,所述方法由PC端二执行,包括:在时域上接收若干组携带信道多径时延信息的基带探测信号,并使用卡尔曼滤波进行自适应降噪处理,得到降噪信号后进行滑动相关处理;采用加权傅里叶变换松弛对滑动相关后信号进行参数提取,得到信道多径时延信息。本发明在大幅度提高多径时延测量精度的同时,降低了信道测量的成本。

    一种三极管非线性放大失真特性研究装置

    公开(公告)号:CN214427783U

    公开(公告)日:2021-10-19

    申请号:CN202120220266.2

    申请日:2021-01-27

    Inventor: 董宇 王丽娜

    Abstract: 本实用新型公开了一种三极管非线性放大失真特性研究装置。属于模拟电路设计等电子信息领域;包括STM32单片机;还包括有电源模块、AD转换器、矩阵键盘、液晶显示器、CD4053模拟开关、模拟电路、LTC1068数据采集模块、AD637检测模块及加法器模块。本实用新型集成度较高,资源利用率高;LCD的屏幕的设计可以实时显示输出失真波形,静态工作点,以及实时信号的THD值;本实用新型克服了晶体三极管单一失真的问题,利用模拟开关可以实现连续控制,并采用LTC1068和AD637采集失真信号谐波参数,计算显示信号失真程度THD值,极大地提高了研究的效率。

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