公开(公告)号：CN107782703B

公开(公告)日：2020-04-28

申请号：CN201710940586.3

申请日：2017-10-11

Applicant: 南京大学

Inventor： 陈扣平 ,  吴吉春 ,  卫云波

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明公开了一种测定多孔介质水分特征曲线的方法，包括：将待测多孔介质置于砂箱中；砂箱的一侧设置一可见光光源，另一侧设置一个与待测多孔介质一体的暗箱；可见光光源发出的光线透过待测多孔介质后，被设置于暗箱内的CCD相机接收，并利用相机控制软件Maxlm DL自动记录透射光强度；根据比尔定律，建立透射光强度与待测多孔介质饱和度之间的关系，根据透射光强度求出待测多孔介质每一像素点的饱和度；在砂箱不同深度处埋入张力计，实时记录待测多孔介质中的毛细压力；根据测得的饱和度‑毛细压力关系绘制水分特征曲线。本发明方法测得的水分特征曲线与用传统压力膜法测得的结果非常吻合，能够快速准确地获得待测多孔介质中各点的水分特征曲线。

公开(公告)号：CN114036874B

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202111441641.7

申请日：2021-11-30

Applicant: 南京大学

Inventor： 陈扣平 ,  吴吉春 ,  卫云波 ,  田靖龙

IPC: G06F30/28 ,  G06F111/08 ,  G06F113/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明提供一种多孔介质水气对流过程模拟的二维模型构建方法，构建二维孔隙网络；构建动态对流过程模拟模型，其中在弯月面更新模拟中引入Two motion事件，所述Two motion事件是在驱替过程和弯月面更新之间引入一个过渡状态，所述过渡状态将驱替过程和弯月面更新分为两个模拟步骤；基于动态对流过程模拟模型分析获取多孔介质孔径分布对对流过程的影响，所述影响具体为孔径分布越均匀，空气流出路径存在时间越长，被困于多孔介质中的空气越少。本发明通过在驱替过程和弯月面更新之间引入一个过渡状态，将弯月面在孔隙/孔喉中的运动认为是“Two motion”事件，显著抑制了二维孔隙网络水气对流过程模拟时弯月面的震荡，同时可以在相对较低的计算负担下准确描述对流模式的形态和演变。

公开(公告)号：CN114036874A

公开(公告)日：2022-02-11

申请号：CN202111441641.7

申请日：2021-11-30

Applicant: 南京大学

Inventor： 陈扣平 ,  吴吉春 ,  卫云波 ,  田靖龙

IPC: G06F30/28 ,  G06F111/08 ,  G06F113/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明提供一种多孔介质水气对流过程模拟的二维模型构建方法，构建二维孔隙网络；构建动态对流过程模拟模型，其中在弯月面更新模拟中引入Two motion事件，所述Two motion事件是在驱替过程和弯月面更新之间引入一个过渡状态，所述过渡状态将驱替过程和弯月面更新分为两个模拟步骤；基于动态对流过程模拟模型分析获取多孔介质孔径分布对对流过程的影响，所述影响具体为孔径分布越均匀，空气流出路径存在时间越长，被困于多孔介质中的空气越少。本发明通过在驱替过程和弯月面更新之间引入一个过渡状态，将弯月面在孔隙/孔喉中的运动认为是“Two motion”事件，显著抑制了二维孔隙网络水气对流过程模拟时弯月面的震荡，同时可以在相对较低的计算负担下准确描述对流模式的形态和演变。

公开(公告)号：CN116818006A

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN202310553623.0

申请日：2023-05-17

Applicant: 南京大学

Inventor： 祝晓彬 ,  吴吉春 ,  吴剑锋 ,  王栋 ,  张厚胜 ,  熊贵耀 ,  卫云波

IPC: G01D21/02

Abstract: 本发明公开了水分入渗过程中气压‑电阻率分析方法、系统及监测设备，涉及水文地质和水文地球物理监测技术领域。本发明的水分入渗过程中气压‑电阻率分析方法步骤为：根据研究目的获取研究范围内的地质信息、降雨信息和水分入渗信息，并采用水气两相流模拟水分入渗的过程；对水分入渗过程进行气压和高密度电阻率的联合监测；分析相同时间的气压和电阻率监测数据，定量刻画水分入渗过程中的气压变化及其对电阻率的影响；根据水分入渗过程中的气压对电阻率的影响对电阻率进行修正，根据修正结果反演水分入渗过程，结合包气带水气二相流理论分析水分迁移过程。通过气压数据修正的电阻率及其反演结果分析提高电阻率法监测水分入渗过程的准确性。

公开(公告)号：CN107782703A

公开(公告)日：2018-03-09

申请号：CN201710940586.3

申请日：2017-10-11

Applicant: 南京大学

Inventor： 陈扣平 ,  吴吉春 ,  卫云波

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明公开了一种测定多孔介质水分特征曲线的方法，包括：将待测多孔介质置于砂箱中；砂箱的一侧设置一可见光光源，另一侧设置一个与待测多孔介质一体的暗箱；可见光光源发出的光线透过待测多孔介质后，被设置于暗箱内的CCD相机接收，并利用相机控制软件Maxlm DL自动记录透射光强度；根据比尔定律，建立透射光强度与待测多孔介质饱和度之间的关系，根据透射光强度求出待测多孔介质每一像素点的饱和度；在砂箱不同深度处埋入张力计，实时记录待测多孔介质中的毛细压力；根据测得的饱和度-毛细压力关系绘制水分特征曲线。本发明方法测得的水分特征曲线与用传统压力膜法测得的结果非常吻合，能够快速准确地获得待测多孔介质中各点的水分特征曲线。