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发明公开
一种精测超微结构的植物叶片样本的原位取样装置及方法审中-实审

公开(公告)号：CN118883130A

公开(公告)日：2024-11-01

申请号：CN202410859264.6

申请日：2024-06-28

Applicant: 南京林业大学

Inventor： 韩吉梅 , 李乐豪 , 曹福亮 , 吴洋 , 孟宇煊 , 朱颖

IPC: G01N1/04

Abstract: 本发明涉及一种精测超微结构的植物叶片样本的原位取样装置及方法，包括基座组件、用于X向切割的第一切割机构、用于Y向切割的第二切割机构。该取样装置通过设置快速取样装置可以快速完成对植物叶片的切割，其中，为了调节切割长度，本方案设置了第一切割机构以及第二切割机构分先后进行两个方向的切割，以形成长方形的切割样品，第一切割机构进行第一次切割后可以手动收纳，使切刀机构旋转受叠，让开切割通道，方便第二切割机构进入，可以通过预先标定的刻度调整切割尺寸，快速完成切割后方便放入离心管进行保存。

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