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公开(公告)号：CN117825936A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410239774.3
申请日：2024-03-04
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明属于集成电路硬件安全技术领域，公开了基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路，通过控制模块控制改进的线性反馈移位寄存器的状态，利用种子信号产生模块提供改进的线性反馈移位寄存器所需要的种子信号，改进的线性反馈移位寄存器模块输出难以预测的序列作为内部测试密钥提供给安全扫描链；安全扫描链的结构是动态的，输出经过混淆的数据，攻击者难以得到真正的扫描数据；通过明文限制模块对扫描链输出进行限制，进一步增强加密电路的安全性，防止差分密码攻击。本发明所述电路可以保护加密芯片免受基于扫描链的攻击，并且面积开销相对较小，且不会增加测试时间，在不影响芯片正常功能的同时又能够实现芯片安全测试的目的。
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公开(公告)号：CN117825936B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410239774.3
申请日：2024-03-04
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明属于集成电路硬件安全技术领域，公开了基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路，通过控制模块控制改进的线性反馈移位寄存器的状态，利用种子信号产生模块提供改进的线性反馈移位寄存器所需要的种子信号，改进的线性反馈移位寄存器模块输出难以预测的序列作为内部测试密钥提供给安全扫描链；安全扫描链的结构是动态的，输出经过混淆的数据，攻击者难以得到真正的扫描数据；通过明文限制模块对扫描链输出进行限制，进一步增强加密电路的安全性，防止差分密码攻击。本发明所述电路可以保护加密芯片免受基于扫描链的攻击，并且面积开销相对较小，且不会增加测试时间，在不影响芯片正常功能的同时又能够实现芯片安全测试的目的。
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公开(公告)号：CN115357949B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202211299122.6
申请日：2022-10-24
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明属于硬件安全技术领域，公开了一种基于环形振荡器PUF的加密测试电路，包括密钥生成模块电路、测试向量输入与判决模块电路和安全扫描链电路；所述密钥生成模块电路产生密钥寄存在安全扫描链电路中；所述测试向量输入与判决模块电路判断输入的明文对汉明距离进行判断，输出判断信号为1或0，从而判断进入安全扫描链电路的为随机序列和正确的扫描测试向量的异或值或正确的扫描测试向量。本发明在解决电压影响的基础上减小PUF的面积以及功耗，生成密钥，并且对密钥进行进一步保护。
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公开(公告)号：CN115357949A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202211299122.6
申请日：2022-10-24
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明属于硬件安全技术领域，公开了一种基于环形振荡器PUF的加密测试电路，包括密钥生成模块电路、测试向量输入与判决模块电路和安全扫描链电路；所述密钥生成模块电路产生密钥寄存在安全扫描链电路中；所述测试向量输入与判决模块电路判断输入的明文对汉明距离进行判断，输出判断信号为1或0，从而判断进入安全扫描链电路的为随机序列和正确的扫描测试向量的异或值或正确的扫描测试向量。本发明在解决电压影响的基础上减小PUF的面积以及功耗，生成密钥，并且对密钥进行进一步保护。
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