公开(公告)号：CN1527243A

公开(公告)日：2004-09-08

申请号：CN200410007491.9

申请日：2004-03-05

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 水谷康司 ,  泽野智美 ,  腰塚靖雄 ,  宫川达也 ,  佐佐木诚

IPC: G06K9/20

CPC classification number: G06F21/32 ,  G06K9/00006 ,  G09G3/3648 ,  G09G2320/0686

Abstract: 本发明提供一种读取被摄体图像的图像读取装置，具备：图像显示装置，配有具有对应于显示灰度的亮度来显示图像的图像显示区域，并发射对应于该亮度的显示光；和光传感器系统，具有覆盖所述图像显示装置的所述图像显示区域的整个区域来层叠配置并放置被摄体的检测面，具有该检测面中放置所述被摄体的第1区域、及除第1区域的所述图像显示区域的至少部分区域所对应的区域所构成的第2区域，配备排列成矩阵状的多个光传感器，该多个光传感器设置在该第1区域和第2区域中，具有均匀的透光性，透过所述显示光的至少一部分，并在所述第1区域中读取所述被摄体的图像。该图像读取装置可良好读取被摄体图像、且可良好进行图像显示。

公开(公告)号：CN1331085C

公开(公告)日：2007-08-08

申请号：CN200410007491.9

申请日：2004-03-05

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 水谷康司 ,  泽野智美 ,  腰塚靖雄 ,  宫川达也 ,  佐佐木诚

IPC: G06K9/20

CPC classification number: G06F21/32 ,  G06K9/00006 ,  G09G3/3648 ,  G09G2320/0686

Abstract: 本发明提供一种读取被摄体图像的图像读取装置，具备：图像显示装置，配有具有对应于显示灰度的亮度来显示图像的图像显示区域，并发射对应于该亮度的显示光；和光传感器系统，具有覆盖所述图像显示装置的所述图像显示区域的整个区域来层叠配置并放置被摄体的检测面，具有该检测面中放置所述被摄体的第1区域、及除第1区域的所述图像显示区域的至少部分区域所对应的区域所构成的第2区域，配备排列成矩阵状的多个光传感器，该多个光传感器设置在该第1区域和第2区域中，具有均匀的透光性，透过所述显示光的至少一部分，并在所述第1区域中读取所述被摄体的图像。该图像读取装置可良好读取被摄体图像、且可良好进行图像显示。

公开(公告)号：CN1476236A

公开(公告)日：2004-02-18

申请号：CN03152474.5

申请日：2003-07-31

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 中村善亮 ,  宫川达也 ,  森川茂 ,  饭浜智美

IPC: H04N5/335 ,  H01L27/146 ,  H01L31/10

CPC classification number: G06K9/0004 ,  G06K9/00053 ,  G06K9/00899 ,  H04N5/335

Abstract: 本发明提供一种读取被检测体的图像图案的图像读取装置，能良好检测放置、接触在检测面的特定的被检测体的接触状态，具备：检测面，放置被检测体；传感器阵列，排列多个传感器，该传感器读取放置在检测面上的被检测体的图像图案；第1检测电极，至少设置在传感器阵列上部，具有检测面；第2检测电极，与第1检测电极电绝缘、间隔设置；相对电极；信号电压施加电路，在第1检测电极中激励第2信号波形；和接触检测装置，根据对应于被检测体接触第1检测电极及第2检测电极双方而在第2检测电极中激励的第3信号波形状态，判断被检测体接触检测面的状态，根据接触检测装置的判断结果，进行读取所述被检测体的图像图案的动作。

公开(公告)号：CN1321914A

公开(公告)日：2001-11-14

申请号：CN01115548.5

申请日：2001-04-27

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 东俊明 ,  宫川达也

IPC: G02F1/136

CPC classification number: G02F1/13458 ,  G02F1/1345 ,  G02F1/136227 ,  H01L27/124 ,  H01L27/1288

Abstract: 利用干蚀刻处理形成一种保护薄膜晶体管的沟道区的保护膜。因此,即使半导体膜中有缺陷,也不会在栅极绝缘膜中形成针孔。于是,即使包括栅极的扫描信号线等仅由具有未在表面上形成阳极氧化膜的A基金属膜形成,栅极绝缘膜的击穿电压也不会降低。

公开(公告)号：CN102110715B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201010549758.2

申请日：2010-09-30

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 宫川达也

IPC: H01L29/78 ,  H01L27/32 ,  H01L21/336 ,  H01L21/77 ,  H01L51/50 ,  H01L51/56

CPC classification number: H01L29/66765 ,  G02F1/1368 ,  G02F2001/136218 ,  H01L27/12 ,  H01L27/124 ,  H01L27/3262 ,  H01L29/78648

Abstract: 本发明提供一种降低特性的偏差的晶体管。在晶体管的BL绝缘膜(53)和BL绝缘膜(55)之间设置电场屏蔽电极(54)，阻挡膜(58)由该三层构成。该电场屏蔽电极(54)屏蔽漏极电极(T1d)、源极电极(T1s)和n+-Si膜(56)的电场。为此，在各驱动晶体管中，即使漏极电极(T1d)、源极电极(T1s)和n+-Si膜(56)的对准错位发生了偏差，并且在与i-Si膜(52)重叠的部分变大的情况下，该部分的电场也被电场屏蔽电极(54)屏蔽，从而减小了特性的偏差。

公开(公告)号：CN1263291C

公开(公告)日：2006-07-05

申请号：CN03152474.5

申请日：2003-07-31

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 中村善亮 ,  宫川达也 ,  森川茂 ,  饭浜智美

IPC: H04N5/335 ,  H01L27/146 ,  H01L31/10 ,  G06K9/00

CPC classification number: G06K9/0004 ,  G06K9/00053 ,  G06K9/00899 ,  H04N5/335

Abstract: 本发明提供一种读取被检测体的图像图案的图像读取装置，能良好检测放置、接触在检测面的特定的被检测体的接触状态，具备：检测面，放置被检测体；传感器阵列，排列多个传感器，该传感器读取放置在检测面上的被检测体的图像图案；第1检测电极，至少设置在传感器阵列上部，具有检测面；第2检测电极，与第1检测电极电绝缘、间隔设置；相对电极；信号电压施加电路，在第1检测电极中激励第2信号波形；和接触检测装置，根据对应于被检测体接触第1检测电极及第2检测电极双方而在第2检测电极中激励的第3信号波形状态，判断被检测体接触检测面的状态，根据接触检测装置的判断结果，进行读取所述被检测体的图像图案的动作。

公开(公告)号：CN102110715A

公开(公告)日：2011-06-29

申请号：CN201010549758.2

申请日：2010-09-30

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 宫川达也

IPC: H01L29/78 ,  H01L27/32 ,  H01L21/336 ,  H01L21/77 ,  H01L51/50 ,  H01L51/56

CPC classification number: H01L29/66765 ,  G02F1/1368 ,  G02F2001/136218 ,  H01L27/12 ,  H01L27/124 ,  H01L27/3262 ,  H01L29/78648

Abstract: 本发明提供一种降低特性的偏差的晶体管。在晶体管的BL绝缘膜(53)和BL绝缘膜(55)之间设置电场屏蔽电极(54)，阻挡膜(58)由该三层构成。该电场屏蔽电极(54)屏蔽漏极电极(T1d)、源极电极(T1s)和n+-Si膜(56)的电场。为此，在各驱动晶体管中，即使漏极电极(T1d)、源极电极(T1s)和n+-Si膜(56)的对准错位发生了偏差，并且在与i-Si膜(52)重叠的部分变大的情况下，该部分的电场也被电场屏蔽电极(54)屏蔽，从而减小了特性的偏差。