公开(公告)号：CN110021282B

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN201811547175.9

申请日：2018-12-18

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 儿玉雅彦 ,  宗田天志 ,  田锅浩之

IPC: G10H1/00 ,  G10H1/32 ,  G06F3/0488

Abstract: 提供操作状态检测装置、操作状态检测用片以及电子乐器。操作状态检测装置具有：电子设备，具有操作面，并且能够在上述操作面上的多个位置检测由操作带来的接触的有无；以及片部件，能够对上述电子设备的上述操作面进行拆装；上述片部件具有在安装到上述操作面上的状态下、对应于被施加的外力的强度而变形从而向上述操作面的接触状况变化的突出部；上述电子设备的处理器在由于上述突出部的变形而接触状况变化的上述操作面上的独立检测区域内的多个位置检测接触的有无，基于在上述多个位置检测到的接触的有无的检测结果，执行确定被施加在上述突出部上的操作的强度或操作的速度的处理。

公开(公告)号：CN110021282A

公开(公告)日：2019-07-16

申请号：CN201811547175.9

申请日：2018-12-18

Applicant: 卡西欧计算机株式会社

Inventor： 儿玉雅彦 ,  宗田天志 ,  田锅浩之

IPC: G10H1/00 ,  G10H1/32 ,  G06F3/0488

Abstract: 提供操作状态检测装置、操作状态检测用片以及电子乐器。操作状态检测装置具有：电子设备，具有操作面，并且能够在上述操作面上的多个位置检测由操作带来的接触的有无；以及片部件，能够对上述电子设备的上述操作面进行拆装；上述片部件具有在安装到上述操作面上的状态下、对应于被施加的外力的强度而变形从而向上述操作面的接触状况变化的突出部；上述电子设备的处理器在由于上述突出部的变形而接触状况变化的上述操作面上的独立检测区域内的多个位置检测接触的有无，基于在上述多个位置检测到的接触的有无的检测结果，执行确定被施加在上述突出部上的操作的强度或操作的速度的处理。