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公开(公告)号：CN103123659B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201210129812.7
申请日：2012-04-27
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081 , G06F17/50 , G06F17/5072 , G06F17/5077 , G06F2217/78
Abstract: 一种系统，包括：自动布局布线工具，基于门级电路描述生成集成电路(IC)管芯的布局。机器可读永久性存储介质包括：第一部分，通过分别在第一和第二IC管芯上形成的第一和第二电路图案的第一门级描述编码；以及第二部分，通过从工具接收的多个电路图案的第二门级描述进行编码。第二门级描述包括电源和接地端口，并且第一门级描述不包括电源和接地端口。由处理器实现的验证模块被提供用于比较第一和第二门级描述，并且如果第二门级描述存在错误则该验证模块输出错误报告。验证模块输出第一和第二电路图案的经过验证的第二门级描述。本发明还提供了一种堆叠管芯互连验证。
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公开(公告)号：CN104778112B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201410138787.8
申请日：2014-04-08
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F11/34
CPC classification number: G06F1/3215 , G06F1/08 , G06F1/3203 , G06F1/3228 , G06F1/324 , G06F1/3243 , G06F1/3296 , G06F11/30 , G06F11/3024 , G06F11/3409 , G06F11/3466 , G06F12/0866 , H04M1/73 , Y02D10/126 , Y02D10/152 , Y02D10/172
Abstract: 提供一种包括监控单元、处理单元以及外围单元的系统。每个处理单元都链接至监控单元，并且每个外围单元也链接至监控单元。每个处理单元被配置成通过监控单元将请求发送到至少一个外围单元并且随后从该至少一个外围单元接收响应。监控单元被配置成测量和存储响应与相应请求之间的延迟。本发明提供了自适应电压频率调整的系统和方法。
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公开(公告)号：CN103226179B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210314114.4
申请日：2012-08-29
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2886 , G01R31/318513
Abstract: 公开了一种用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法。该系统和方法包括：用于独立测试管芯叠层内的每一个管芯的可重复利用的验证环境，而不需要同时运行叠层内的所有管芯。系统和方法包括将来自管芯验证测试的输入/输出(“IO”)轨迹从第一格式转换为第二格式，以提高性能。
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公开(公告)号：CN103543350B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201210397946.7
申请日：2012-10-18
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/318513
Abstract: 本发明公开了用于测试管芯堆叠件并且插入修复电路的系统和方法，修复电路在启用时补偿管芯堆叠件中的缺陷延迟，具体地，缺陷位于管芯间数据传输路径中。确定管芯内时序裕量值和管芯间时序裕量值以确立管芯堆叠件中的哪个管芯和哪些管芯会受益于修复电路的插入。本发明还提供了用于测试堆叠管芯的系统和方法。
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公开(公告)号：CN104778112A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201410138787.8
申请日：2014-04-08
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F11/34
CPC classification number: G06F1/3215 , G06F1/08 , G06F1/3203 , G06F1/3228 , G06F1/324 , G06F1/3243 , G06F1/3296 , G06F11/30 , G06F11/3024 , G06F11/3409 , G06F11/3466 , G06F12/0866 , H04M1/73 , Y02D10/126 , Y02D10/152 , Y02D10/172
Abstract: 提供一种包括监控单元、处理单元以及外围单元的系统。每个处理单元都链接至监控单元，并且每个外围单元也链接至监控单元。每个处理单元被配置成通过监控单元将请求发送到至少一个外围单元并且随后从该至少一个外围单元接收响应。监控单元被配置成测量和存储响应与相应请求之间的延迟。本发明提供了自适应电压频率调整的系统和方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103309431B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201210306936.8
申请日：2012-08-24
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F1/32
CPC classification number: G06F1/324 , Y02D10/126
Abstract: 一种用于电子系统级(ESL)上的动态频率调整(DFS)的方法。所述方法可在虚拟环境下运行并且基于第一交易时间和第二交易时间动态调整虚拟设备的频率。本发明还公开了微处理器中的动态频率调整方法。(56)对比文件Youngjin Cho等.System-Level PowerEstimation using and On-chip BusPerformance Monitoring Unit《.Computer-Aided Design, 2008. ICCAD 2008. IEEE/ACMInternational Conference》.2008,149-154.Lukai Cai等.Transaction LevelModeling: An Overview《.Hardware/SoftwareCodesign and System Synthesis, 2003.First IEEE/ACM/IFIP InternationalConference》.2003,19-24.
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公开(公告)号：CN104515952A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410490077.1
申请日：2014-09-23
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G01R31/3187 , G01R31/3177
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/318513 , G01R31/318563
Abstract: 本发明提供了一种单片堆叠集成电路(IC)，该电路在它的其中一个上层中具有高良率层(KGL)测试电路和扫描段。该测试电路包括连接到扫描段并连接到IC的第二层的多个输入端、输出端和多路复用器。该测试电路还包括多个控制元件，使得堆叠IC的扫描测试可以在逐层的基础上进行。本发明涉及用于单片堆叠集成电路测试的电路和方法。
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公开(公告)号：CN103123659A
公开(公告)日：2013-05-29
申请号：CN201210129812.7
申请日：2012-04-27
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5081 , G06F17/50 , G06F17/5072 , G06F17/5077 , G06F2217/78
Abstract: 一种系统，包括：自动布局布线工具，基于门级电路描述生成集成电路(IC)管芯的布局。机器可读永久性存储介质包括：第一部分，通过分别在第一和第二IC管芯上形成的第一和第二电路图案的第一门级描述编码；以及第二部分，通过从工具接收的多个电路图案的第二门级描述进行编码。第二门级描述包括电源和接地端口，并且第一门级描述不包括电源和接地端口。由处理器实现的验证模块被提供用于比较第一和第二门级描述，并且如果第二门级描述存在错误则该验证模块输出错误报告。验证模块输出第一和第二电路图案的经过验证的第二门级描述。本发明还提供了一种堆叠管芯互连验证。
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公开(公告)号：CN104515952B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201410490077.1
申请日：2014-09-23
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G01R31/3187 , G01R31/3177
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/318513 , G01R31/318563
Abstract: 本发明提供了一种单片堆叠集成电路(IC)，该电路在它的其中一个上层中具有高良率层(KGL)测试电路和扫描段。该测试电路包括连接到扫描段并连接到IC的第二层的多个输入端、输出端和多路复用器。该测试电路还包括多个控制元件，使得堆叠IC的扫描测试可以在逐层的基础上进行。本发明涉及用于单片堆叠集成电路测试的电路和方法。
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公开(公告)号：CN103543350A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201210397946.7
申请日：2012-10-18
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/318513
Abstract: 本发明公开了用于测试管芯堆叠件并且插入修复电路的系统和方法，修复电路在启用时补偿管芯堆叠件中的缺陷延迟，具体地，缺陷位于管芯间数据传输路径中。确定管芯内时序裕量值和管芯间时序裕量值以确立管芯堆叠件中的哪个管芯和哪些管芯会受益于修复电路的插入。本发明还提供了用于测试堆叠管芯的系统和方法。
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