通用半导体激光器电导数测试仪

    公开(公告)号:CN103576068A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201310544214.0

    申请日:2013-11-05

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明的通用半导体激光器电导数测试仪,属于半导体激光器可靠性测试的技术领域。结构包括计算机(41)、数据采集卡(42)、被测激光器(29)、光电探测器(30)、脉冲压控电流源(43)和采样保持器(46)。数据采集卡(42)通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源(43)连接;脉冲压控电流源(43)为被测激光器(29)提供驱动电流;数据采集卡(42)的两路模拟输入端分别测量被测激光器(29)的结电压和通过采样保持电路(46)测量被测激光器(29)的光功率。本发明能测量连续半导体激光器、脉冲半导体激光器和激光器芯片的电导数,通用性强;未使用锁相放大器、正弦信号发生器的设备,结构简单而成本低。

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