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公开(公告)号：CN119723124A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510228639.3
申请日：2025-02-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子产品的风险检测方法和风险检测设备，应用于射线检测技术领域。该方法包括：根据获取的产品重量信息和基准重量信息，确定重量差异信息；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的峰值信噪比，峰值信噪比表征待检产品与基准产品之间的整体相似性；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的减影值，减影值表征待检产品与基准产品之间的局部差异性；根据重量差异信息、峰值信噪比和减影值，确定待检产品的风险程度。本发明通过较低的射线能量和剂量可以减小检测成本和减小防护难度。
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公开(公告)号：CN119470511A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411745034.3
申请日：2024-11-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/203 , G01N23/20008 , G01T1/00
Abstract: 本公开提供了一种背散射探测器，包括：多个探测器模块，布置在不同位置且射线信号通道相互独立；其中，多个探测器模块中至少两个第一探测模块彼此的探测区域面积不同，至少两个第一探测模块各自的探测区域面积分别与各自的目标第一计数率相适配。本公开还公开了一种背散射探测装置。
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公开(公告)号：CN118758980A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410785279.2
申请日：2021-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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公开(公告)号：CN108398445B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN201810437654.9
申请日：2018-05-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种探测器模块结构，包括：探测器组件，包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件；数据采集电路板，包括板体和信号输入连接件，板体的第一表面具有信号输入区，信号输入连接件设置于信号输入区，信号输出连接件与信号输入连接件连接；第一封盖，贴合于板体的与第一表面相对的第二表面；探测器封罩，罩设于探测器组件和信号输入连接件外；第一连接件，连接探测器封罩、板体和第一封盖；和第一密封元件，设置于探测器封罩与第一表面之间，用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本发明可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。
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公开(公告)号：CN107861146B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN201711428826.8
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本发明的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108535770B
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN201810437201.6
申请日：2018-05-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种余辉检测装置和余辉检测方法。余辉检测装置包括：X射线管；第一读出电路，用于与被检测探测器连接，检测时被检测探测器接受X射线束辐射，并向第一读出电路输出第一探测信号，第一读出电路根据第一探测信号形成并输出第一测量信号；残余射线探测器；第二读出电路，与残余射线探测器连接，残余射线探测器接受X射线束辐射并向第二读出电路输出第二探测信号，第二读出电路根据第二探测信号形成并输出第二测量信号；计算装置，与第一读出电路和第二读出电路分别信号连接并根据关断X射线管的电源后的第一测量信号和第二测量信号计算并输出余辉检测信号。本发明具有简便、可靠的优点。
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公开(公告)号：CN112114347A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201910546489.5
申请日：2019-06-21
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/202
Abstract: 本发明公开一种用于制造闪烁体探测器的设备。闪烁体探测器包括：闪烁体；反射层，其在闪烁体的上方和侧方包围闪烁体；以及光探测器，其设置在闪烁体和反射层的下方，并且具有灵敏面和信号读出电路。所述设备包括：闪烁体工装，其适于夹持由反射层和闪烁体构成的组件；以及光探测器工装，其适于支撑所述光探测器。所述设备还包括光源(例如X光机)和位移装置，所述位移装置适于夹持闪烁体工装并且在动力的驱动下移动闪烁体工装，以使闪烁体的光输出面对准光探测器的灵敏面。本发明还公开一种使用所述设备制造闪烁体探测器的方法。通过采用上述技术方案，本发明实现了小尺寸闪烁体探测器中的闪烁体的光输出面与光探测器的灵敏面之间的精确对准。
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公开(公告)号：CN107064361B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201710252395.8
申请日：2014-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N30/02 , G01N30/72 , G01N30/18 , G01N30/16 , G01N30/06 , G01N30/08 , G01N27/62 , G01N1/02 , G01N30/30 , G01N1/40 , H01J49/04
Abstract: 本发明公开了一种检测设备和检测方法。检测设备包括：采样装置，用于采集将要被检测的样品；预处理进样装置，用于对来自采样装置的样品预处理；样品分析装置，用于分离来自预处理进样装置的被预处理的样品和分析分离后的样品。本发明的检测设备实现小型化，并且能够在不开包的情况下快速准确地检测气相物质或颗粒物质，精确度高，适于机场、口岸、地铁站等安检。
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公开(公告)号：CN107861146A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711428826.8
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本发明的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。
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公开(公告)号：CN104407080B
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201410740596.9
申请日：2014-12-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明的便携式气相色谱毛细管柱模块具备：毛细管柱骨架，从一端朝向另一端沿轴向形成有圆孔；盖帽，连接在所述毛细管柱骨架的所述一端；加热器件，插入在所述圆孔内；毛细管柱，绕制在所述保护膜的外表面；圆筒外壳，内部配置所述毛细管柱骨架；保温套，罩在由所述圆筒外壳和所述盖帽组合成的指形圆筒外。
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