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公开(公告)号:CN117607934A
公开(公告)日:2024-02-27
申请号:CN202311811466.5
申请日:2023-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/02
Abstract: 本公开提供了一种辐射剂量检测装置和辐射剂量检测方法。该辐射剂量检测装置包括:电离室,限定出容纳空间,所述容纳空间中填充有气体,所述气体被配置成与进入所述容纳空间的射线发生反应产生电子;N个VDMOS器件,置于所述容纳空间内,N为大于或等于1的整数;其中,N个所述VDMOS器件中至少一个器件的源漏反向电流电压曲线响应于所述电子发生变化,所述射线的辐射剂量通过变化前后的所述源漏反向电流电压曲线得到。
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公开(公告)号:CN118392897A
公开(公告)日:2024-07-26
申请号:CN202410311353.7
申请日:2024-03-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种光子计数型X射线探测器及光子计数X射线探测方法,其中的探测器包括:X射线光子转换器元件,用于将入射X射线的X射线光子转换为电信号;信号处理电路,与X射线光子转换器元件连接,用于基于电信号得到X射线光子的能谱信息和时间信息,能谱信息用于辅助进行物质分解,时间信息用于辅助加快成像速度;信号处理电路包括能谱探测单元和时间探测单元;能谱探测单元用于获取X射线光子的能谱信息;时间探测单元用于测量并记录X射线光子的时间信息。该探测器通过在信号处理电路中增加时间探测单元,能够同时探测X射线光子实时的能谱信息和时间信息,进而提升了高速成像场合下的物体检测速度和检测准确度。
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