公开(公告)号：CN115186580A

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN202210759867.X

申请日：2022-06-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 李兴冀 ,  张英涛 ,  刘研 ,  徐晓东

IPC: G06F30/27 ,  G06F17/18 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明提供了一种不同类型空间辐照入射粒子的作用效应预测方法及系统，属于模拟仿真技术领域。所述预测方法包括：获取数据库中的样本数据，所述样本数据包括入射粒子的参数信息以及相应的作用效应信息；将所述样本数据划分为训练集和测试集，并分别定义所述训练集和所述测试集中的自变量和因变量；根据所述自变量和所述因变量建立回归模型，并通过所述回归模型进行所述自变量与所述因变量之间的关联分析。本发明基于回归算法，对拥有不同参数类型的入射粒子对航空航天半导体器件辐照损伤所造成的作用效应进行智能预测，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路，且预测效率高、成本低。

公开(公告)号：CN115203917A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210762733.3

申请日：2022-06-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 李兴冀 ,  张英涛 ,  徐晓东 ,  刘研

IPC: G06F30/20 ,  G06K9/62 ,  G06Q10/04 ,  G06F17/18 ,  G06F119/14 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明提供了一种基于空间辐照的PKA信息的智能预测方法及系统。所述方法包括：从数据集中获取样本数据，并将所述样本数据划分为训练集和测试集，所述样本数据包括入射粒子的信息以及入射粒子辐照器件后产生的PKA的信息；定义所述训练集和所述测试集中分别使用的自变量和因变量；根据所述自变量和所述因变量建立线性回归模型；对所述线性回归模型进行评估；根据对所述线性回归模型的评估结果确定线性回归的预测次数。本发明通过人工智能计算和预测仿真方法，可以预测不同辐照条件下材料产生的PKA相应信息，进而分析PKA信息对半导体器件辐照损伤过程的影响，为器件辐照损伤实时性分析、材料选取提供重要依据，且预测效率高、成本低。

公开(公告)号：CN115186463B

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN202210762700.9

申请日：2022-06-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 李兴冀 ,  张英涛 ,  刘研 ,  杨剑群 ,  徐晓东

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/10 ,  G06F111/08 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明提供了一种基于器件辐射缺陷演化全过程的跨尺度仿真方法和系统，所述方法包括：定义粒子参数和材料参数，并将其输入模拟系统；根据分子动力学基本原理，建立基于空间入射粒子的分子动力学模型，进行基于分子动力学的空间入射粒子的运动数值模拟，并获取不同时刻空间入射粒子的运动轨迹、速度、能量和在空间器件中的分布信息；采用统计物理学方法统计不同状态下空间入射粒子的运动规律，将空间入射粒子的微观状态和材料的宏观性质相关联，进行跨尺度计算仿真。本发明以单个入射粒子和材料参数为研究对象，对入射粒子在空间器件中产生的跨尺度缺陷演化效应进行模拟仿真，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路。

公开(公告)号：CN115186463A

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN202210762700.9

申请日：2022-06-30

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 李兴冀 ,  张英涛 ,  刘研 ,  杨剑群 ,  徐晓东

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/10 ,  G06F111/08 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明提供了一种基于器件辐射缺陷演化全过程的跨尺度仿真方法和系统，所述方法包括：定义粒子参数和材料参数，并将其输入模拟系统；根据分子动力学基本原理，建立基于空间入射粒子的分子动力学模型，进行基于分子动力学的空间入射粒子的运动数值模拟，并获取不同时刻空间入射粒子的运动轨迹、速度、能量和在空间器件中的分布信息；采用统计物理学方法统计不同状态下空间入射粒子的运动规律，将空间入射粒子的微观状态和材料的宏观性质相关联，进行跨尺度计算仿真。本发明以单个入射粒子和材料参数为研究对象，对入射粒子在空间器件中产生的跨尺度缺陷演化效应进行模拟仿真，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路。