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公开(公告)号：CN102608157A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210114665.6
申请日：2012-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 用于固体材料高温热辐射物性实验的杂散辐射抑制装置及抑制方法，涉及一种杂散辐射抑制装置及抑制方法。它是为了抑制热辐射物性实验的杂散辐射。它的入射光入射至一号移动式消光筒，并所述经一号移动式消光筒消光后入射至位于加热室中的固体材料试样，经所述固体材料试样透射后入射至二号移动式消光筒，经所述二号移动式消光筒消光后入射至一号遮光屏，经所述一号遮光屏透射后入射至一号反射镜，经所述一号反射镜反射至二号反射镜，经所述二号反射镜反射至二号遮光屏，经所述二号遮光屏透射后入射至三号反射镜，经所述三号反射镜反射后入射至探测器的探测面。本发明适用于各种固体材料高温热辐射物性实验中的杂散辐射抑制。
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公开(公告)号：CN109211796B
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN201811222704.8
申请日：2018-10-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法，涉及一种测量固体材料光谱发射率的方法。本发明是要解决现有的测量材料光谱发射率的方法需要设置参考黑体，且高温下试件温度不均匀、误差大，光路系统复杂的技术问题。本发明将样品放入高温炉中，启动高温炉和加热片均加热至温度为T0，测得辐射能量φλ0；保持高温炉的加热温度为T0，将加热片的温度升高至T1，测得辐射能量φλ1；保持加热片的加热温度为T1，同时将高温炉的温度升高至T1，测得辐射能量φλ2，光谱发射率本发明不必设置参考黑体，试件温度均匀、误差小、没有复杂的光路系统，实现了1000K～2000K高温条件下固体材料连续光谱发射率的精确测量。
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公开(公告)号：CN103712958B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201410003478.X
申请日：2014-01-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/59
Abstract: 半透明固体材料高温定向透射比的测量方法，属于固体材料高温热辐射特性的测量技术领域。本发明为了解决目前不能从单一半透明固体材料样片中通过测量获得其多个高温定向透射比的问题。它将光源、光阑、加热腔和圆弧轨道沿光源的光轴布置；沿圆弧轨道移动探测器，使光源发射的光束经光阑的通光孔、光入射孔和光出射孔后，被探测器吸收，记录初始响应信号；将半透明固体材料样片放置到加热腔内，记录探测器由光出射孔及每个测量孔依次获得的第一探测信号；使光阑遮住光源发射的光束，记录探测器由光出射孔及每个测量孔依次获得的第二探测信号；计算获得半透明固体材料样片的高温定向透射比。本发明用于测量半透明固体材料高温定向透射比。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103698356A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201410003477.5
申请日：2014-01-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/00
Abstract: 半透明固体材料高温定向反射比的测量方法，属于固体材料高温热辐射特性的测量技术领域。本发明是为了解决不能从单一半透明固体材料样片中测量获得多个高温定向反射比的问题。它将光源、光阑、圆弧轨道和加热腔沿光源的光轴方向布置；沿圆弧轨道移动探测器使光敏面中心对准光源的光轴，记录探测器的初始响应信号；将半透明固体材料样片放置到加热腔内，转动探测器使其光敏面的中心对准半透明固体材料样片的反射面中心，记录探测器由每个测量孔获得的第一探测信号；使光阑遮住光源发射的光束，记录探测器由每个测量孔获得的第二探测信号，计算获得半透明固体材料样片在目标温度时的定向反射比。本发明用于测量半透明固体材料高温定向反射比。
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公开(公告)号：CN102608157B
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201210114665.6
申请日：2012-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 用于固体材料高温热辐射物性实验的杂散辐射抑制装置及抑制方法，涉及一种杂散辐射抑制装置及抑制方法。它是为了抑制热辐射物性实验的杂散辐射。它的入射光入射至一号移动式消光筒，并所述经一号移动式消光筒消光后入射至位于加热室中的固体材料试样，经所述固体材料试样透射后入射至二号移动式消光筒，经所述二号移动式消光筒消光后入射至一号遮光屏，经所述一号遮光屏透射后入射至一号反射镜，经所述一号反射镜反射至二号反射镜，经所述二号反射镜反射至二号遮光屏，经所述二号遮光屏透射后入射至三号反射镜，经所述三号反射镜反射后入射至探测器的探测面。本发明适用于各种固体材料高温热辐射物性实验中的杂散辐射抑制。
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公开(公告)号：CN109211796A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201811222704.8
申请日：2018-10-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N21/171 , G01N21/255 , G01N2021/1714
Abstract: 一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法，涉及一种测量固体材料光谱发射率的方法。本发明是要解决现有的测量材料光谱发射率的方法需要设置参考黑体，且高温下试件温度不均匀、误差大，光路系统复杂的技术问题。本发明将样品放入高温炉中，启动高温炉和加热片均加热至温度为T0，测得辐射能量φλ0；保持高温炉的加热温度为T0，将加热片的温度升高至T1，测得辐射能量φλ1；保持加热片的加热温度为T1，同时将高温炉的温度升高至T1，测得辐射能量φλ2，光谱发射率 本发明不必设置参考黑体，试件温度均匀、误差小、没有复杂的光路系统，实现了1000K～2000K高温条件下固体材料连续光谱发射率的精确测量。
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公开(公告)号：CN103698356B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410003477.5
申请日：2014-01-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N25/00
Abstract: 半透明固体材料高温定向反射比的测量方法，属于固体材料高温热辐射特性的测量技术领域。本发明是为了解决不能从单一半透明固体材料样片中测量获得多个高温定向反射比的问题。它将光源、光阑、圆弧轨道和加热腔沿光源的光轴方向布置；沿圆弧轨道移动探测器使光敏面中心对准光源的光轴，记录探测器的初始响应信号；将半透明固体材料样片放置到加热腔内，转动探测器使其光敏面的中心对准半透明固体材料样片的反射面中心，记录探测器由每个测量孔获得的第一探测信号；使光阑遮住光源发射的光束，记录探测器由每个测量孔获得的第二探测信号，计算获得半透明固体材料样片在目标温度时的定向反射比。本发明用于测量半透明固体材料高温定向反射比。
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公开(公告)号：CN103712958A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201410003478.X
申请日：2014-01-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/59
Abstract: 半透明固体材料高温定向透射比的测量方法，属于固体材料高温热辐射特性的测量技术领域。本发明为了解决目前不能从单一半透明固体材料样片中通过测量获得其多个高温定向透射比的问题。它将光源、光阑、加热腔和圆弧轨道沿光源的光轴布置；沿圆弧轨道移动探测器，使光源发射的光束经光阑的通光孔、光入射孔和光出射孔后，被探测器吸收，记录初始响应信号；将半透明固体材料样片放置到加热腔内，记录探测器由光出射孔及每个测量孔依次获得的第一探测信号；使光阑遮住光源发射的光束，记录探测器由光出射孔及每个测量孔依次获得的第二探测信号；计算获得半透明固体材料样片的高温定向透射比。本发明用于测量半透明固体材料高温定向透射比。
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