一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法

    公开(公告)号:CN105157952A

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201510527509.6

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法,本发明涉及测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法。本发明是为了解决现有方法对仪器设备要求较高,测量时间较长,仅适用于短距离保偏光纤平均双折射的测量,操作较为复杂,以及无法测量长距离保偏光纤的平均双折射及其温度系数的问题。通过以下技术方案实现的:由光源1,光源2,环形器,PC1,PC2,滤波器,数据采集装置,温控设备,电光调制器1和电光调制器2组成;一、调节与采集信号;二、采用控温设备使保偏光纤温度分别在-40℃,-20℃,0℃,20℃,40℃,60℃时,测量快轴和慢轴产生的布里渊散射信号;三、数据处理。本发明应用于光学测量领域。

    一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法

    公开(公告)号:CN105157952B

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201510527509.6

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法,本发明涉及测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法。本发明是为了解决现有方法对仪器设备要求较高,测量时间较长,仅适用于短距离保偏光纤平均双折射的测量,操作较为复杂,以及无法测量长距离保偏光纤的平均双折射及其温度系数的问题。通过以下技术方案实现的:由光源1,光源2,环形器,PC1,PC2,滤波器,数据采集装置,温控设备,电光调制器1和电光调制器2组成;一、调节与采集信号;二、采用控温设备使保偏光纤温度分别在‑40℃,‑20℃,0℃,20℃,40℃,60℃时,测量快轴和慢轴产生的布里渊散射信号;三、数据处理。本发明应用于光学测量领域。

Patent Agency Ranking