一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104535534A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410777264.8

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明属于光学技术领域,具体涉及一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法。一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置,由光纤Michelson干涉仪、精密三维位移平台和信号处理单元,由宽带白光光源及其驱动器、3dB光纤耦合器、光纤准直器、反射扫描镜、带有准直器的探测光纤、光探测器、信号处理单元、待测光纤预制棒、精密三维位移平台组成。本发明提出的光纤预制棒折射率剖面测量装置具有结构简单、测量方便、操作调节简单等优点。

    一种基于腔长可调F-P白光干涉解调装置的分布式光纤应变测量系统

    公开(公告)号:CN104535007A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410777290.0

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明属于光纤传感技术领域,具体涉及一种可用于多点准分布应变或者准温度分布等物理量的实时监测与测量的基于腔长可调F-P白光干涉解调装置的分布式光纤应变测量系统。本发明由宽谱光源、四端口光纤环行器、双端口连接的光纤耦合器、腔长可调F-P白光干涉解调装置、三端口光纤环行器、第一传输光纤和第二传输光纤、第一光纤传感器阵列和第二光纤传感器阵列、第一光电探测信号放大器和第二光电探测信号放大器以及第一信号处理单元和第二信号处理单元组成,由于光纤环形器的使用,消除了反馈回光源的信号,提高了光源的稳定性,增强了光源功率的利用率,进一步提高了传感系统的复用能力。

    一种双光路集成在同一根光纤中的Michelson干涉仪型光程相关器

    公开(公告)号:CN104503079B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201410777317.6

    申请日:2014-12-15

    Inventor: 苑立波 张晓彤

    Abstract: 本发明属于光纤技术领域,具体涉及的是一种可用于后向散射光时域干涉与频域干涉测量系统中,也可用于多路复用光纤白光干涉传感器阵列的解调系统中的双光路集成在同一根光纤中的Michelson干涉仪型光程相关器。双光路集成在同一根光纤中的Michelson干涉仪型光程相关器,由单模光纤1,锥形区2,偏心双芯光纤3,双芯光纤端面环形反射膜4,自聚焦透镜棒5和反射镜6组成,单芯光纤与偏心双芯光纤的连接是通过将两种光纤焊接后在焊点处实施加热拉锥而形成锥形区从而形成了一个分光器,通过锥形区将两种光纤连接起来,分光器将来自光源的注入光分成两路。本发明消除了由于分立光路给测量系统带来的误差和不确定性。

    一种利用光纤白光干涉原理实现的高精度液体折射率测量仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN105823757A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201610136779.9

    申请日:2016-03-10

    CPC classification number: G01N21/45

    Abstract: 本发明属于光纤技术领域,具体涉及的是一种可广泛应用于科学研究、工业计量和生物医学检测,也可以应用于食品安全领域的利用光纤白光干涉原理实现的高精度液体折射率测量仪及其测量方法。本发明由光源1,光电探测器2,光谱仪3,耦合器,PZT调制器6,光纤端反射镜7,光纤准直器8,液体皿9,扫描动镜10和扫描位移台11构成。解决在一个较宽的光谱范围内,快速的通过一次测量就完成宽谱光源波长范围内对应的每个波长的折射率的问题,不需要待测材料进行样品加工、测量系统调整方便、能够实现液体材料折射率测量。

    一种宽谱光源光谱分布函数和自相关函数的测量与构造方法

    公开(公告)号:CN104502071A

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201510001556.7

    申请日:2015-01-05

    Inventor: 苑立波 张晓彤

    Abstract: 本发明属于白光干涉光学测量技术领域,具体涉及一种宽谱光源光谱分布函数和自相关函数的测量与构造方法。本发明包括:采用高精度光谱仪测得待测的宽谱光源的光谱分布曲线,并将光谱分布曲线的测试数据采集出来;将宽谱光源的光谱分布函数用N个高斯基函数的线性叠加表示,确定高斯基函数的中心波长,光谱强度系数和光谱分布参数;对宽谱光源的光谱分布函数进行傅里叶变换得到宽谱光源的自相关特性。通过本方法可以有效测得所有宽谱光源的分布函数以及相关曲线值,更简便,实用性更强。

    一种基于Smith谐振干涉型光程匹配扫描器的低相干光纤形变传感器网络解调系统

    公开(公告)号:CN104535008A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410777298.7

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明属于光纤传感技术领域,具体涉及的是一种可用于多种光纤传感网络结构,实现多点准分布形变、应变或者准温度分布等物理量的实时监测与测量的基于Smith谐振干涉型光程匹配扫描器的低相干光纤形变传感器网络解调系统。基于Smith谐振干涉型光程匹配扫描器的低相干光纤形变传感器网络解调系统,由宽谱光源、四端口光纤环行器、Smith谐振干涉型光程匹配扫描器、传输光纤、光纤传感器网络、光电探测信号放大器以及信号处理单元组成。本发明由于四端口光纤环形器的使用,消除了反馈回光源的信号,提高了光源的稳定性,同时增强了光源功率的利用率,能够使光源发出的光全部得到利用,也进一步提高了传感网络系统的复用能力。

    一种基于分层WFRFT架构的非对称混合载波信号传输方法

    公开(公告)号:CN110830405B

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN201911079415.1

    申请日:2019-11-07

    Abstract: 本发明涉及一种基于分层WFRFT架构的非对称混合载波信号传输方法领域,所述方法包括如下步骤:对输入端的分数域数据进行调制;对数据进行的WFRFT运算;对数据进行相位调整;经过并串转换以及增加循环前缀后,发送数据至信道;进行去循环前缀以及串并转换;对每一列的数据进行DFT运算;进行频域均衡;对每一列的数据进行IDFT运算;对矩阵中的数据进行相位调整;对矩阵中的每一行的数据进行WFRFT运算;对矩阵进行按列变换得到N维列向量,并进行相应的解调输出。本发明提出了一种基于分层WFRFT架构的混合载波系统,实现了混合载波系统、非对称OFDM系统、OFDM系统以及单载波系统的统一,相比于传统的混合载波系统具有高阶的二维参数可调性。

    一种利用光纤白光干涉原理实现的高精度液体折射率测量仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN105823757B

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201610136779.9

    申请日:2016-03-10

    Abstract: 本发明属于光纤技术领域,具体涉及的是一种可广泛应用于科学研究、工业计量和生物医学检测,也可以应用于食品安全领域的利用光纤白光干涉原理实现的高精度液体折射率测量仪及其测量方法。本发明由光源1,光电探测器2,光谱仪3,耦合器,PZT调制器6,光纤端反射镜7,光纤准直器8,液体皿9,扫描动镜10和扫描位移台11构成。解决在一个较宽的光谱范围内,快速的通过一次测量就完成宽谱光源波长范围内对应的每个波长的折射率的问题,不需要待测材料进行样品加工、测量系统调整方便、能够实现液体材料折射率测量。

    一种低相干多路复用准分布光纤应变测量系统

    公开(公告)号:CN104501731B

    公开(公告)日:2019-03-05

    申请号:CN201410777316.1

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明属于光纤连接技术领域,具体涉及的是一种基于Sagnac‑Fizeau级联型解调干涉仪的低相干多路复用准分布光纤应变测量系统。低相干多路复用准分布光纤应变测量系统,由宽谱光源、四端口光纤环行器、Sagnac‑Fizeau级联型解调干涉仪、传输光纤、光纤传感器阵列、光电探测信号放大器以及信号处理单组成,宽谱光源发出的光经由四端口光纤环行器后被注入到Sagnac‑Fizeau级联型解调干涉仪,Sagnac‑Fizeau级联型解调干涉仪产生光程差可调的两束问讯光信号。由于四端口光纤环形器的使用,消除了反馈回光源的信号,提高了光源的稳定性,同时增强了光源功率的利用率,能够使光源发出的光全部得到利用,也进一步提高了传感系统的复用能力。

    一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104535534B

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201410777264.8

    申请日:2014-12-15

    Abstract: 本发明属于光学技术领域,具体涉及一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置及测量方法。一种基于白光干涉绝对光程比较法的光纤预制棒折射率分布剖面测量装置,由光纤Michelson干涉仪、精密三维位移平台和信号处理单元,由宽带白光光源及其驱动器、3dB光纤耦合器、光纤准直器、反射扫描镜、带有准直器的探测光纤、光探测器、信号处理单元、待测光纤预制棒、精密三维位移平台组成。本发明提出的光纤预制棒折射率剖面测量装置具有结构简单、测量方便、操作调节简单等优点。

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